[发明专利]快闪存储器的字节编程重试方法有效

专利信息
申请号: 201811197887.2 申请日: 2018-10-15
公开(公告)号: CN109524047B 公开(公告)日: 2021-04-16
发明(设计)人: 钱亮 申请(专利权)人: 上海华虹宏力半导体制造有限公司
主分类号: G11C16/34 分类号: G11C16/34
代理公司: 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 代理人: 屈蘅
地址: 201203 上海市浦东*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供一种快闪存储器的字节编程方法及其字节编程重试方法,该字节编程方法是在同一个时序周期之内,以多个字节为单位对存储器的多个字节存储区依次进行编程,然后对存储器可靠性的进行验证。该编程重试方法是将字节编程的标准时间划分为时间间隔相同的多段,在同一个时序周期内执行以下步骤:在当前时间段,以多个字节为单位对存储器的多个字节存储区进行编程操作,验证该编程操作是否通过,若通过,不验证后续时间段的编程操作,否则,在下一个时间段,重复验证该编程操作是否通过,直到所有时间段验证完成为止。本发明具有缩短了存储器可靠性测试的编程时间和提高了测试效率的技术效果。
搜索关键词: 闪存 字节 编程 重试 方法
【主权项】:
1.一种快闪存储器的字节编程方法,其特征在于,在同一个时序周期之内,以多个字节为单位对存储器的多个字节存储区依次进行编程,然后对存储器的可靠性进行验证。
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