[发明专利]快闪存储器的字节编程重试方法有效
申请号: | 201811197887.2 | 申请日: | 2018-10-15 |
公开(公告)号: | CN109524047B | 公开(公告)日: | 2021-04-16 |
发明(设计)人: | 钱亮 | 申请(专利权)人: | 上海华虹宏力半导体制造有限公司 |
主分类号: | G11C16/34 | 分类号: | G11C16/34 |
代理公司: | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人: | 屈蘅 |
地址: | 201203 上海市浦东*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 闪存 字节 编程 重试 方法 | ||
1.一种快闪存储器的字节编程重试方法,其特征在于,将字节编程的标准时间划为时间间隔相同的多段,在同一个时序周期之内执行以下步骤:在当前时间段,以多个字节为单位对存储器的多个字节存储区进行编程操作,编程操作包括:对存储器的多个字节存储区依次执行擦除数据的操作、读取擦除数据的操作、写入数据的操作和读取写入数据的操作,然后对存储器的可靠性进行验证,验证该编程操作是否通过,若通过,结束验证程序,不验证后续时间段的编程操作,判断存储器的可靠性的验证成功,否则,判断存储器的可靠性验证失败执行下一个时间段;所述对存储器的可靠性进行验证的步骤包括:当存储器的多个字节存储区执行的擦除数据和读取的擦除数据相一致时、且写入数据和读取的写入数据相一致时,验证所述存储器的多个字节存储区的可靠性通过,否则不通过;在下一个时间段,以多个字节为单位对存储器的多个字节存储区进行编程操作,重复验证编程操作是否通过,直到所有时间段验证完成为止。
2.如权利要求1所述的快闪存储器的字节编程重试方法,其特征在于,将字节编程的标准时间划分为时间间隔相同的三段,在同一个时序周期之内执行以下步骤;
在第一个时间段,以多个字节为单位对存储器的多个字节存储区进行第一次编程操作,验证第一次编程操作是否通过,若通过,结束验证程序,判断存储器的可靠性的验证成功,否则,判断存储器可靠性的验证失败,执行第二个时间段;
在第二个时间段,以多个字节为单位对所述存储器的多个字节存储区进行第二次编程操作,验证第二次编程操作是否通过,若通过,结束验证程序,判断存储器的可靠性验证成功,否则,判断存储器可靠性的验证失败,执行第三个时间段;
在第三个时间段,以多个字节为单位对所述存储器的多个字节存储区进行第三次编程操作,验证所述第三次编程操作是否通过,若通过,则判断存储器可靠性的验证成功,否则,判断存储器可靠性的验证失败。
3.如权利要求1所述的快闪存储器的字节编程重试方法,其特征在于,在同一个时序周期之内,以多个字节为单位对存储器的行或者半行存储区依次进行编程,然后对存储器的可靠性进行验证。
4.如权利要求1所述的快闪存储器的字节编程重试方法,其特征在于,在同一个时序周期之内,以多个字节为单位对存储器的扇或者半扇存储区依次进行编程,然后对存储器的可靠性进行验证。
5.如权利要求1所述的快闪存储器的字节编程重试方法,其特征在于,在同一个时序周期之内,以多个字节为单位对存储器的块或者半块存储区依次进行编程,然后对存储器的可靠性进行验证。
6.如权利要求1所述的快闪存储器的字节编程重试方法,其特征在于,在同一个时序周期之内,以多个字节为单位对存储器的页或者半页存储区依次进行编程,然后对存储器的可靠性进行验证。
7.如权利要求1所述的快闪存储器的字节编程重试方法,其特征在于,所述快闪存储器为纳米级的快闪存储器。
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