[发明专利]一种钻石光学参数测量方法在审
| 申请号： | 201811195498.6 | 申请日： | 2018-10-15 |
| 公开（公告）号： | CN108931523A | 公开（公告）日： | 2018-12-04 |
| 发明（设计）人： | 林畅伟 | 申请（专利权）人： | 深圳市完美爱钻石有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/87 | 分类号： | G01N21/87;G01N21/01 |
| 代理公司： | 深圳市精英专利事务所 44242 | 代理人： | 龙丹丹 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市罗湖区翠*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种钻石光学参数测量方法，其包括如下步骤：S1、提供一光源，所述光源照射于待测量钻石；S2、驱动所述钻石转动，使所述光源从不同角度照射于所述钻石；S3、采集并存储不同角度光线照射钻石后形成的图像；S4、计算分析钻石的光学参数。该方法可直接测量并计算出切磨后钻石的光学参数，与传统方法相比，可直接有效、客观地评价钻石的光学效果，另外，测得的光学效果参数可直接展示于显示装置，被消费者实时获知，另外该方法步骤简单，无需特殊培训的人员即可处理，检测可靠性和一致性高，能有效提高加工过程中钻石切磨的质量、钻石的成品率。 | ||
| 搜索关键词： | 钻石 光学参数测量 光学参数 光学效果 切磨 光源 照射 光源照射 计算分析 角度光线 显示装置 直接测量 成品率 获知 转动 存储 采集 测量 图像 驱动 检测 培训 展示 | ||
【主权项】：
1.一种钻石光学参数测量方法，其特征在于，包括如下步骤：S1、提供一光源，所述光源照射于待测量钻石；S2、驱动所述钻石转动，使所述光源从不同角度照射于所述钻石；S3、采集并存储不同角度光线照射钻石后形成的图像；S4、计算分析钻石的光学参数。
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