[发明专利]一种钻石光学参数测量方法在审

专利信息
申请号: 201811195498.6 申请日: 2018-10-15
公开(公告)号: CN108931523A 公开(公告)日: 2018-12-04
发明(设计)人: 林畅伟 申请(专利权)人: 深圳市完美爱钻石有限公司
主分类号: G01N21/87 分类号: G01N21/87;G01N21/01
代理公司: 深圳市精英专利事务所 44242 代理人: 龙丹丹
地址: 518000 广东省深圳市罗湖区翠*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 钻石 光学参数测量 光学参数 光学效果 切磨 光源 照射 光源照射 计算分析 角度光线 显示装置 直接测量 成品率 获知 转动 存储 采集 测量 图像 驱动 检测 培训 展示
【权利要求书】:

1.一种钻石光学参数测量方法,其特征在于,包括如下步骤:

S1、提供一光源,所述光源照射于待测量钻石;

S2、驱动所述钻石转动,使所述光源从不同角度照射于所述钻石;

S3、采集并存储不同角度光线照射钻石后形成的图像;

S4、计算分析钻石的光学参数。

2.根据权利要求1所述的钻石光学参数测量方法,其特征在于,所述步骤S4具体包括:

S41、测量采集到的图像中各像素点的灰度值,并与预设灰度阈值比较,计算大于所述灰度阈值的像素点灰度值之和,即为钻石的亮度值;

S42、计算采集到的图像中各像素点的色纯度,并与预设的色纯度阈值比较,计算大于所述色纯度阈值的像素点面积,即得彩色区域面积;

S43、计算采集到的图像中各像素点的明度值,并加和处理,得到彩度值数据;

S44、根据步骤S41、S42、S43得到的计算结果计算钻石的光学效果参数。

3.根据权利要求2所述的钻石光学参数测量方法,其特征在于,所述待测量钻石台面朝下设置,所述光源照射于所述钻石侧方。

4.根据权利要求3所述的钻石光学参数测量方法,其特征在于,所述步骤S3具体为采集由钻石亭部反射出的与水平方向呈0-45°的角度的光线图像。

5.根据权利要求4所述的钻石光学参数测量方法,其特征在于,所述待测量钻石置于一具有驱动机构的台面上,所述驱动机构驱动所述台面转动。

6.根据权利要求5所述的钻石光学参数测量方法,其特征在于,所述步骤S3通过CCD摄像头采集图像,所述步骤S4通过计算机进行计算分析,所述CCD摄像头与所述计算机信号连接。

7.根据权利要求6所述的钻石光学参数测量方法,其特征在于,所述光源为由LED灯珠组成的LED阵列。

8.根据权利要求7所述的钻石光学参数测量方法,其特征在于,所述步骤S1中,所述待测量钻石置于透明溶液中。

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