[发明专利]一种提高单星干扰源定位精度的阵元优化排布方法有效
申请号: | 201811174799.0 | 申请日: | 2018-10-09 |
公开(公告)号: | CN109444808B | 公开(公告)日: | 2020-07-14 |
发明(设计)人: | 张旭;李雄飞;樊宁波;李加洪;楼大年 | 申请(专利权)人: | 西安空间无线电技术研究所 |
主分类号: | G01S3/04 | 分类号: | G01S3/04;G01S3/02;G01S3/10 |
代理公司: | 中国航天科技专利中心 11009 | 代理人: | 张欢 |
地址: | 710100*** | 国省代码: | 陕西;61 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明涉及一种提高单星干扰源定位精度的阵元优化排布方法,该方法面向高精度单星干扰定位应用需求,通过在阵列排布目标函数中引入相关系数特征,对天线阵列在测向范围内各方向矢量的独立性和唯一性进行评判,进而对天线阵元进行排布结构的优化。采用该方案进行排布优化设计,一方面可以克服克拉美‑罗界对单纯优化DOA估计算法性能提升限制,实现高精度干扰定位处理;另一方面能够有效解决天线孔径扩展所导致的相位模糊问题,有效提升阵列的空间分辨能力。且所提出的阵元优化排布定位方法对系统误差影响不敏感,适用于星上处理工程实现,有效支持基于空间谱估计的高精度干扰定位应用需求。 | ||
搜索关键词: | 一种 提高 干扰 定位 精度 优化 排布 方法 | ||
【主权项】:
1.一种提高单星干扰源定位精度的阵元优化排布方法,其特征在于,包括步骤如下:(1)选定基准天线阵元排布方式,选用由U·V个点张成的方向图,绘制对应干扰功率谱图,并进行相位模糊位置分析,判定选定的基准排布方式是否存在伪峰现象;其中,U表示方向角Az取值点个数,V为俯仰角El取值点个数;(2)若存在伪峰现象,则在圆坐标系中,以阵面中心点为基准,在阵面尺寸不变的条件下,调整天线阵面内、外环阵元相对角度差及半径差,进入步骤(3);若不存在伪峰现象,则方法结束;(3)计算调整后的方向图的第一个点导向矢量α(Az1,El1)与其余点导向矢量α(Azk,Eln)的相关系数ρ(α1,1,αk,n),并求取均值
k=1,2,…,U,n=1,2,…,V;(4)遍历测向范围内全部俯仰角El和方位角Az共U·V个点,求取各来波方向对应导向矢量的互相关系数均值
并绘制方向矢量空间相关系数谱图,判断相关系数峰值情况;(5)以最小化测向范围内所有方向矢量的平均相关系数和
为约束条件,优化阵列排布目标函数
重复步骤(2)至步骤(4),对全部调整阵列的方向矢量间相关程度进行评判比较,直至伪峰现象被消除,最终选取平均相关系数和
最小的天线阵元排布方式。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西安空间无线电技术研究所,未经西安空间无线电技术研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201811174799.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。