[发明专利]一种NOR FLASH类芯片测试系统在审
| 申请号： | 201811067323.7 | 申请日： | 2018-09-13 |
| 公开（公告）号： | CN109541430A | 公开（公告）日： | 2019-03-29 |
| 发明（设计）人： | 张薄军;姜胜林;赵俊;罗朝凤;周元辰 | 申请（专利权）人： | 深圳市卓精微智能机器人设备有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R31/3181;G01R19/00;G11C29/56 |
| 代理公司： | 深圳市徽正知识产权代理有限公司 44405 | 代理人： | 李想 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市宝*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种NOR FLASH类芯片测试系统，包括CPU模块、TTL接口模块、显示模块、功能选择模块、OS参数测试模块、IDD测试模块、FLASH功能测试模块、电平转换模块、系统电源模块和NAND FLASH芯片；CPU模块用于实现对系统中各个模块的功能实现及控制，从而实现对NOR FLASH类芯片的所有功能参数测试。本发明所述的一种NOR FLASH类芯片测试系统，由各种小型模块和机械手自动化设备组成，能够解决生产过程中通用测试设备自身体积大、控制程序繁琐、成本高等方面的不足，提高了芯片测试系统生产测试的灵活性，而且成本比较低，便于工作人员操作，缩短了芯片的生产周期，提高了生产效率，而且满足了并行和串行NOR FLASH类芯片的全面测试，带来更好的使用前景。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片测试系统 芯片 控制程序 参数测试模块 电平转换模块 功能参数测试 功能测试模块 功能选择模块 通用测试设备 系统电源模块 生产周期 自动化设备 测试模块 成本比较 功能实现 全面测试 生产测试 生产过程 生产效率 显示模块 小型模块 机械手 并行 | ||
【主权项】：
1.一种NORFLASH类芯片测试系统，其特征在于，包括CPU模块、TTL接口模块、显示模块、功能选择模块、OS参数测试模块、IDD测试模块、FLASH功能测试模块、电平转换模块、系统电源模块和NANDFLASH芯片；CPU模块用于实现对系统中各个模块的功能实现及控制，从而实现对NOR FLASH类芯片的所有功能参数测试；显示模块用于实现显示NORFLASH类芯片测试系统工作过程中检测到的芯片相关数据；功能选择模块用于实现实际测试生产过程中NORFLASH类芯片测试系统的测试调试及控制；TTL接口模块用于实现CPU模块与机械手或分选机设备之间的信息通讯；系统电源模块提供NORFLASH类芯片测试系统检测过程中所有模块工作所需的电源电压；OS参数测试模块用于测试NORFLASH类芯片IC管脚上的保护二极管是否完好；IDD测试模块用于即就是测试NORFLASH类芯片的实际工作电流大小；FLASH功能测试模块用于测试NORFLASH类芯片的内部相关数据的运算和处理速度；电平转换模块用于实现本系统能兼容不同电压标准的NANDFLASH芯片类型。
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