[发明专利]一种NOR FLASH类芯片测试系统

说明书

本发明公开了一种NOR FLASH类芯片测试系统，包括CPU模块、TTL接口模块、显示模块、功能选择模块、OS参数测试模块、IDD测试模块、FLASH功能测试模块、电平转换模块、系统电源模块和NAND FLASH芯片；CPU模块用于实现对系统中各个模块的功能实现及控制，从而实现对NOR FLASH类芯片的所有功能参数测试。本发明所述的一种NOR FLASH类芯片测试系统，由各种小型模块和机械手自动化设备组成，能够解决生产过程中通用测试设备自身体积大、控制程序繁琐、成本高等方面的不足，提高了芯片测试系统生产测试的灵活性，而且成本比较低，便于工作人员操作，缩短了芯片的生产周期，提高了生产效率，而且满足了并行和串行NOR FLASH类芯片的全面测试，带来更好的使用前景。

技术领域

本发明涉及消防领域，特别涉及一种NOR FLASH类芯片测试系统。

背景技术

NOR FLASH类芯片是一种大容量低成本的芯片，应用程序可以直接在Flash闪存内运行，不必再把代码读到系统RAM中，具有很高的传输速率，是现代人们的常用芯片，NORFLASH类芯片的需求量也不断扩大，而NOR FLASH类芯片在生产环节需要进行相应的测试，现有的NOR FLASH类芯片的测试通常采用大型通用测试设备才能测试，而通用大型测试设备体积大、价格贵、生产成本高，而且通用大型测试设备系统复杂，操作不便，从开发到投入的生产周期较长，而且很多设备只能对NOR FLASH类芯片串行和并行状态其中一种进行测试，测试不全面，不满足人们的使用要求，为此，我们提出一种NOR FLASH类芯片测试系统。

发明内容

本发明的主要目的在于提供一种NOR FLASH类芯片测试系统，可以有效解决背景技术中的问题。

为实现上述目的，本发明采取的技术方案为：

一种NOR FLASH类芯片测试系统，包括CPU模块、TTL接口模块、显示模块、功能选择模块、OS参数测试模块、IDD测试模块、FLASH功能测试模块、电平转换模块、系统电源模块和NAND FLASH芯片；

CPU模块用于实现对系统中各个模块的功能实现及控制，从而实现对NOR FLASH类芯片的所有功能参数测试；

显示模块用于实现显示NOR FLASH类芯片测试系统工作过程中检测到的芯片相关数据；

功能选择模块用于实现实际测试生产过程中NOR FLASH类芯片测试系统的测试调试及控制；

TTL接口模块用于实现CPU模块与机械手或分选机设备之间的信息通讯；

系统电源模块提供NOR FLASH类芯片测试系统检测过程中所有模块工作所需的电源电压；

OS参数测试模块用于测试NOR FLASH类芯片IC管脚上的保护二极管是否完好；

IDD测试模块用于即就是测试NOR FLASH类芯片的实际工作电流大小；

FLASH功能测试模块用于测试NOR FLASH类芯片的内部相关数据的运算和处理速度；

电平转换模块用于实现本系统能兼容不同电压标准的NAND FLASH芯片类型。

优选的，所述CPU模块采用Lattcie FPGA LFXP2-8芯片，XC7A75F484芯片采用TQFP144封装芯片。

优选的，所述显示模块采用串口液晶TFT显示模块GPU28，所述显示模块通过串行通讯接口与CPU模块连接。

优选的，所述功能选择模块包括芯片类型选择按键、START按键、PAUSE按键、STOP按键和点测按键。