[发明专利]光延迟器件的延迟参数的测量方法

摘要

光延迟器件的延迟参数的测量方法，旨在于提供一种能够满足任意波长、测量系统简单、测量范围大、测量精度高的需求。测量基于移频外差干涉装置，在该装置中窄线宽激光器输出的光载波通过光分束器送入外差干涉仪的两臂，上臂经过光移频器进行频移，下臂经过待测光延迟器件进行延迟，两臂的光信号在外差干涉仪的末端通过光合束器合束后，送入到光电探测器检测，转换为电信号，并输入到信号分析与处理模块进行处理，得到光电流的功率谱密度函数，利用功率谱密度函数中参考移频频率同侧出现的第一个和第二个谷值所对应的频率，可以计算得到外差干涉仪两臂的相对光延迟时间，然后去掉待测光延迟器件，将光分束器的输出端下臂和光合束器的输入端下臂直接光连接，重复实验操作，计算得到无待测光延迟器件时外差干涉仪两臂的相对光延迟时间，将得到的两个相对光延迟时间相减即为待测光延迟器件的绝对光延迟时间。

主权项

1.光延迟器件的延迟参数的测量装置，包括窄线宽激光器(1)、外差干涉仪(6)、光电探测器(7)和信号分析与处理模块(8)，所述窄线宽激光器(1)、外差干涉仪(6)和光电探测器(7)依次光连接，所述光电探测器(7)与信号分析与处理模块(8)电连接，所述外差干涉仪(6)包括光分束器(2)、光移频器(3)、待测光延迟器件(4)和光合束器(5)，所述光分束器(2)的输出端上臂、所述光移频器(3)和所述光合束器(5)的输入端上臂依次光连接，所述光分束器(2)的输出端下臂、所述待测光延迟器件(4)和所述光合束器(5)的输入端下臂依次光连接。