[发明专利]光延迟器件的延迟参数的测量方法

权利要求书

1.光延迟器件的延迟参数的测量方法，包括以下步骤：

步骤1：本测量方法的测量装置是基于移频外差干涉仪的，其包括窄线宽激光器(1)、外差干涉仪(6)、光电探测器(7)和信号分析与处理模块(8)，所述窄线宽激光器(1)、外差干涉仪(6)和光电探测器(7)依次光连接，所述光电探测器(7)与信号分析与处理模块(8)电连接，所述外差干涉仪(6)包括光分束器(2)、光移频器(3)、待测光延迟器件(4)和光合束器(5)，所述光分束器(2)的输出端上臂、所述光移频器(3)和所述光合束器(5)的输入端上臂依次光连接，所述光分束器(2)的输出端下臂、所述待测光延迟器件(4)和所述光合束器(5)的输入端下臂依次光连接；

步骤2：在外差干涉仪中将窄线宽激光器(1)输出的波长为λ₀的光载波通过光分束器(2)送入外差干涉仪(6)的两臂，上臂经过光移频器(3)进行频移，移频频率为f₀，下臂经过待测光延迟器件(4)进行延迟，两臂的光信号在外差干涉仪(6)的末端通过光合束器(5)合束后，送入到光电探测器(7)检测，转换为电信号，并输入到信号分析与处理模块(8)，得到光电流的功率谱密度函数的第一个谷值对应的频率f₁₁和第二个谷值对应的频率f₂₁，计算此时的外差干涉仪(6)两臂的相对光延迟时间τ₁，计算公式为

步骤3：去掉外差干涉仪(6)中的待测光延迟器件(4)，将光分束器(2)的输出端下臂与光合束器(5)的输入端下臂直接光连接，重复步骤2的测试，同样得到光电流的功率谱密度函数的第一个谷值对应的频率f₁₂和第二个谷值对应的频率f₂₂，计算此时的外差干涉仪(6)两臂的相对光延迟时间τ₂，计算公式为

步骤4：计算τ₁-τ₂得到待测光延迟器件(4)的绝对光延迟时间；

步骤5：改变窄线宽激光器(1)的波长λ₀，重复步骤2～步骤4，即可得到不同波长下的待测光延迟器件(4)的绝对光延迟时间。

2.根据权利要求1所述的光延迟器件的延迟参数的测量方法，其特征在于：窄线宽激光器(1)的相干时间要大于外差干涉仪(6)两臂的相对光延迟时间。

3.根据权利要求1所述的光延迟器件的延迟参数的测量方法，其特征在于：第一个谷值和第二个谷值分布在移频频率f₀的同侧。