[发明专利]用于晶体管的基板接点有效
| 申请号: | 201810986073.0 | 申请日: | 2018-08-28 |
| 公开(公告)号: | CN109461657B | 公开(公告)日: | 2023-03-31 |
| 发明(设计)人: | D·M·雷伯;M·D·史洛夫 | 申请(专利权)人: | 恩智浦美国有限公司 |
| 主分类号: | H01L21/336 | 分类号: | H01L21/336;H01L29/78;H01L29/423 |
| 代理公司: | 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 | 代理人: | 欧阳帆 |
| 地址: | 美国得*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | 本公开涉及用于晶体管的基板接点。在一些实施例中,通过形成第一栅极结构和第二栅极结构来形成基板接点。在晶片的第一区域中的第一容积中形成所述第一栅极结构,且在所述晶片的第二区域中的第二容积中形成所述第二栅极结构。在所述晶片的第一区域中从所述晶片移除栅极电介质,但所述栅极电介质存留在所述第二区域中。针对所述栅极结构形成第一侧壁间隔物且针对所述第二栅极结构形成第二侧壁间隔物。在一些实施例中,可利用所述第一栅极结构作为基板接点,且可利用所述第二栅极结构作为晶体管的栅极。在其它实施例中,可移除所述第一栅极结构和所述第二栅极结构,且可在开口中沉积金属栅极材料以用于分别形成基板接点和金属栅极。 | ||
| 搜索关键词: | 用于 晶体管 接点 | ||
【主权项】:
1.一种形成晶体管的方法,其特征在于,包括:在晶片的基板上方形成栅极电介质材料层;在所述栅极电介质材料层上方形成栅极材料层;图案化所述栅极材料层以形成第一栅极结构和第二栅极结构,所述第一栅极结构占据所述晶片的第一容积,且所述第二栅极结构占据所述晶片的第二容积;针对所述第一栅极结构形成第一侧壁间隔物且针对所述第二栅极结构形成第二侧壁间隔物;从所述晶片的区域移除所述栅极电介质材料,所述晶片的所述第一容积在所述区域正上方;其中基板接点包括位于所述第一容积中的至少一部分,其中晶体管的栅极包括位于所述第二容积中的至少一部分。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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