[发明专利]一种方便测试旋转式耦合器分断能力的装置在审

专利信息
申请号: 201810954217.4 申请日: 2018-08-21
公开(公告)号: CN109100542A 公开(公告)日: 2018-12-28
发明(设计)人: 夏晶;程日初;束美俊;邢昊 申请(专利权)人: 合肥维晶电器有限公司
主分类号: G01R1/04 分类号: G01R1/04;G01R31/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 238000 安徽省巢*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 发明公开了一种方便测试旋转式耦合器分断能力的装置,包括测试装置本体,所述测试装置本体的两侧均固定连接有外壳,所述外壳远离测试装置本体的一侧设置有转钮,所述转钮靠近外壳的一侧固定连接有圆柱,所述圆柱远离转钮的一侧贯穿至外壳的内腔和轴承套接,所述轴承远离圆柱的一侧与外壳的内壁固定连接,所述外壳的内壁开设有与圆柱配合使用的通孔。本发明通过设置测试装置本体、外壳、转钮、圆柱、轴承、通孔、蜗轮、蜗杆、圆形滑槽、螺套、滑块、圆形滑轨、螺杆、支撑板、滑杆、滑槽、支撑柱、固定板、通槽和滚轮的相互配合,解决了现有的方便测试旋转式耦合器分断能力的装置不具备便于固定的问题。
搜索关键词: 测试装置本体 转钮 分断能力 旋转式 耦合器 测试 内壁 通孔 轴承 圆形滑槽 圆形滑轨 圆柱配合 固定板 固定的 支撑板 支撑柱 轴承套 滚轮 滑槽 滑杆 滑块 螺杆 螺套 内腔 通槽 蜗杆 蜗轮 贯穿 配合
【主权项】:
1.一种方便测试旋转式耦合器分断能力的装置,包括测试装置本体(1),其特征在于:所述测试装置本体(1)的两侧均固定连接有外壳(2),所述外壳(2)远离测试装置本体(1)的一侧设置有转钮(3),所述转钮(3)靠近外壳(2)的一侧固定连接有圆柱(4),所述圆柱(4)远离转钮(3)的一侧贯穿至外壳(2)的内腔和轴承(5)套接,所述轴承(5)远离圆柱(4)的一侧与外壳(2)的内壁固定连接,所述外壳(2)的内壁开设有与圆柱(4)配合使用的通孔(6),所述圆柱(4)的表面套接有蜗轮(7),所述蜗轮(7)的正面啮合有蜗杆(8),所述外壳(2)内腔的顶部开设有与蜗杆(8)配合使用的圆形滑槽(9),所述蜗杆(8)的顶部贯穿至圆形滑槽(9)的内壁并与圆形滑槽(9)的内壁滑动连接,所述蜗杆(8)的底部螺纹连接有螺套(10),所述螺套(10)的两侧均固定连接有滑块(11),所述滑块(11)远离螺套(10)的一侧滑动连接有圆形滑轨(12),所述圆形滑轨(12)远离滑块(11)的一侧与外壳(2)的内壁固定连接,所述螺套(10)的内壁螺纹连接有螺杆(13),所述螺杆(13)的底部固定连接有支撑板(14),所述支撑板(14)的两侧对称设置有滑杆(15),所述外壳(2)内腔的两侧均开设有与滑杆(15)配合使用的滑槽(16),所述支撑板(14)的底部设置有支撑柱(17),所述支撑柱(17)的底部贯穿至外壳(2)的底部和固定板(18)固定连接,所述外壳(2)内腔的底部开设有与支撑柱(17)配合使用的通槽(19),所述测试装置本体(1)底部的两侧均设置有滚轮(20)。
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