[发明专利]一种方便测试旋转式耦合器分断能力的装置

说明书

本发明公开了一种方便测试旋转式耦合器分断能力的装置，包括测试装置本体，所述测试装置本体的两侧均固定连接有外壳，所述外壳远离测试装置本体的一侧设置有转钮，所述转钮靠近外壳的一侧固定连接有圆柱，所述圆柱远离转钮的一侧贯穿至外壳的内腔和轴承套接，所述轴承远离圆柱的一侧与外壳的内壁固定连接，所述外壳的内壁开设有与圆柱配合使用的通孔。本发明通过设置测试装置本体、外壳、转钮、圆柱、轴承、通孔、蜗轮、蜗杆、圆形滑槽、螺套、滑块、圆形滑轨、螺杆、支撑板、滑杆、滑槽、支撑柱、固定板、通槽和滚轮的相互配合，解决了现有的方便测试旋转式耦合器分断能力的装置不具备便于固定的问题。

技术领域

本发明涉及耦合器技术领域，具体为一种方便测试旋转式耦合器分断能力的装置。

背景技术

在微波系统中，往往需将一路微波功率按比例分成几路，这就是功率分配问题。实现这一功能的元件称为功率分配元器件即耦合器，主要包括：定向耦合器、功率分配器以及各种微波分支器件。

随着科技技术的发展，各种测试装置的功能也越来越强大，但现有的方便测试旋转式耦合器分断能力的装置不具备便于固定的优点，因此在测试装置使用的过程中容易出现滑动从而导致测试结果有误，因此降低了测试装置的实用性，不适合推广使用。

发明内容

(一)解决的技术问题

针对现有技术的不足，本发明提供了一种方便测试旋转式耦合器分断能力的装置，具备便于固定等优点，解决了现有的方便测试旋转式耦合器分断能力装置不具备便于固定的问题。

(二)技术方案

为实现上述便于固定的目的，本发明提供如下技术方案：一种方便测试旋转式耦合器分断能力的装置，包括测试装置本体，所述测试装置本体的两侧均固定连接有外壳，所述外壳远离测试装置本体的一侧设置有转钮，所述转钮靠近外壳的一侧固定连接有圆柱，所述圆柱远离转钮的一侧贯穿至外壳的内腔和轴承套接，所述轴承远离圆柱的一侧与外壳的内壁固定连接，所述外壳的内壁开设有与圆柱配合使用的通孔，所述圆柱的表面套接有蜗轮，所述蜗轮的正面啮合有蜗杆，所述外壳内腔的顶部开设有与蜗杆配合使用的圆形滑槽，所述蜗杆的顶部贯穿至圆形滑槽的内壁并与圆形滑槽的内壁滑动连接，所述蜗杆的底部螺纹连接有螺套，所述螺套的两侧均固定连接有滑块，所述滑块远离螺套的一侧滑动连接有圆形滑轨，所述圆形滑轨远离滑块的一侧与外壳的内壁固定连接，所述螺套的内壁螺纹连接有螺杆，所述螺杆的底部固定连接有支撑板，所述支撑板的两侧对称设置有滑杆，所述外壳内腔的两侧均开设有与滑杆配合使用的滑槽，所述支撑板的底部设置有支撑柱，所述支撑柱的底部贯穿至外壳的底部和固定板固定连接，所述外壳内腔的底部开设有与支撑柱配合使用的通槽，所述测试装置本体底部的两侧均设置有滚轮。

优选的，所述支撑板的两侧均通过固定件与滑杆固定连接，所述滑杆远离支撑板的一侧贯穿至滑槽的内壁并与滑槽的内壁滑动连接。

优选的，所述支撑柱的两侧均固定连接有限定块，且限定块的底部设置有螺栓，螺栓的螺纹端贯穿至限定块的顶部与支撑板螺纹连接。

优选的，所述固定板的底部通过粘合剂粘合有防滑垫，且防滑垫的底部开设有防滑纹。

优选的，所述测试装置本体底部的两侧均通过固定件与滚轮固定连接，且两个滚轮关于测试装置本体呈对称设置。

(三)有益效果

与现有技术相比，本发明提供了一种方便测试旋转式耦合器分断能力的装置，具备以下有益效果：

1、本发明通过设置测试装置本体、外壳、转钮、圆柱、轴承、通孔、蜗轮、蜗杆、圆形滑槽、螺套、滑块、圆形滑轨、螺杆、支撑板、滑杆、滑槽、支撑柱、固定板、通槽和滚轮的相互配合，解决了现有的方便测试旋转式耦合器分断能力的装置不具备便于固定的问题，因此该测试装置在使用的过程中避免了出现滑动从而导致测试结果有误的状况，因此提高了测试装置的实用性，适合推广使用。