[发明专利]一种1S1R型相变存储单元结构及其制备方法有效

专利信息
申请号: 201810946088.4 申请日: 2018-08-20
公开(公告)号: CN109119534B 公开(公告)日: 2019-05-31
发明(设计)人: 李克洲;周绍林 申请(专利权)人: 华南理工大学
主分类号: H01L45/00 分类号: H01L45/00
代理公司: 广州市越秀区海心联合专利代理事务所(普通合伙) 44295 代理人: 黄为;冼俊鹏
地址: 528300 广东省佛山市顺德*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种1S1R型相变存储单元结构及其制备方法,依次层叠设置的顶电极层、OTS层、中间电极层、绝缘层、底电极层和衬底;中间电极层与绝缘层的接触面中部位置向中间电极层内凹陷,凹陷处置有相变材料层;绝缘层在相变材料层对应的位置设有贯穿绝缘层的加热电极,加热电极一端连接相变材料层,另一端连接底电极层。优点在于,采用包裹式的中间电极层,通过按照蘑菇型单元热量分布的形状调整相变材料层的直径与高度,使得热量分布更加均匀。增加了相变材料层与中间电极层的接触面积,从而减小与中间电极层接触区域的相变材料的电流密度,避免突变热对该区域的局部编程,提升阻值分布,减小误操作可能,提高提升相变存储单元可靠性。
搜索关键词: 中间电极层 相变材料层 绝缘层 相变存储单元 底电极层 加热电极 热量分布 一端连接 减小 制备 顶电极层 接触区域 相变材料 形状调整 依次层叠 中部位置 包裹式 蘑菇型 内凹陷 误操作 凹陷 衬底 编程 突变 贯穿
【主权项】:
1.一种1S1R型相变存储单元结构,其特征在于,包括:依次层叠设置的顶电极层(190)、OTS层(170)、中间电极层(150)、绝缘层(130)、底电极层(120)和衬底(110);所述的中间电极层(150)与绝缘层(130)的接触面中部位置向中间电极层(150)内凹陷,凹陷处置有相变材料层(160),中间电极层(150)形成对相变材料层(160)包裹式设置;所述的绝缘层(130)在相变材料层(160)对应的位置设有贯穿绝缘层(130)的加热电极(140),所述的加热电极(140)一端连接相变材料层(160),另一端连接底电极层(120)。
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