[发明专利]一种单晶硅片的退火方法有效
| 申请号: | 201810899888.5 | 申请日: | 2018-08-09 |
| 公开(公告)号: | CN109137068B | 公开(公告)日: | 2020-10-16 |
| 发明(设计)人: | 潘连胜;何翠翠;秦朗;李珍珍 | 申请(专利权)人: | 锦州神工半导体股份有限公司 |
| 主分类号: | C30B29/06 | 分类号: | C30B29/06;C30B33/02 |
| 代理公司: | 北京易捷胜知识产权代理事务所(普通合伙) 11613 | 代理人: | 齐胜杰 |
| 地址: | 121001 辽*** | 国省代码: | 辽宁;21 |
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| 摘要: | 本发明公开了一种单晶硅片的退火方法。包括:a、启动退火炉,并充入保护气体,将温度升至740~760℃,保温25~35分钟,放入单晶硅片,再次在740~760℃下,保温10~40分钟;b、将退火炉的温度降至640~660℃,保温10~40分钟;c、将单晶硅片迅速移出所述退火炉外,放入风淋机构中,一侧送风,一侧出风,送风口设有冷凝机组对进风降温,由风机将冷空气吹向单晶硅片,风速为3~7m/s,空气温度为10~16℃,将单晶硅片放置在中间的风道上,并且让冷风从侧面吹过上下平面,保证两侧均匀,在3~5min内,将单晶硅片冷却至室温。本发明的有益效果是:能够有效地消除由于氧施主效应造成的电阻率虚高的现象,退火后的阻值稳定,而浮动小。 | ||
| 搜索关键词: | 一种 单晶硅 退火 方法 | ||
【主权项】:
1.一种单晶硅片的退火方法,包括:a、启动退火炉,并充入保护气体,将温度升至740~760℃,保温25~35分钟,放入单晶硅片,再次在740~760℃下,保温10~40分钟;b、将退火炉的温度降至640~660℃,保温10~40分钟;c、将单晶硅片迅速移出所述退火炉外,放入风淋机构中,一侧送风,一侧出风,送风口设有冷凝机组对进风降温,由风机将冷空气吹向单晶硅片,风速为3~7m/s,空气温度为10~16℃,将单晶硅片放置在中间的风道上,并且让冷风从侧面吹过上下平面,保证两侧均匀,在3~5min内,将单晶硅片冷却至室温;其中,在步骤c中,降温曲线函数为:
T为降温速率℃/s,t为降温的时间s,v为风速m/s,C为单晶硅的比热容C=0.219cal/g·k,R为单晶硅的半径cm,H为硅片的厚度cm,ρ为单晶硅的密度2.33g/cm3。
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