[发明专利]一种面板缺陷分析方法、装置及存储介质

摘要

本发明实施例公开了一种面板缺陷分析方法、装置及存储介质，本发明实施例可以获取待分析的面板对应的面板图像；对所述面板图像中的缺陷进行检测，得到缺陷的位置和类型；按照预设策略对所述面板图像进行电路区域分割，得到包括多个电路区域的电路分割图像；根据所述缺陷的位置从所述电路分割图像中，截取所述缺陷所在的电路区域，得到待分析图像；通过机器学习模型并基于所述待分析图像和所述缺陷的类型，分析所述缺陷对所述面板中电路造成的影响，得到缺陷分析结果。该方案实现了自动对面板缺陷进行检测及分析，而无需工人参与，不仅减少了人工的工作量，而且提高了对面板进行缺陷分析的准确性及效率。

主权项

1.一种面板缺陷分析方法，其特征在于，包括：/n获取待分析的面板对应的面板图像；/n采用预设的检测模型对所述面板图像中的缺陷进行检测，得到缺陷的位置和类型，所述检测模型为基于标注有缺陷的位置和类型的样本图像进行训练而得到，所述缺陷的位置和类型通过包含用预设数值标识缺陷的缺陷分割图像表征，所述缺陷分割图像根据缺陷特征用不同的像素值对缺陷区域和非缺陷区域进行分割，以通过所述缺陷分割图像中的像素值获知缺陷的位置及类型；/n按照预设策略对所述面板图像进行电路区域分割，得到包括多个电路区域的电路分割图像；/n根据所述缺陷的位置从所述电路分割图像中，截取所述缺陷所在的电路区域，得到待分析图像；/n通过机器学习模型计算所述待分析图像中所述缺陷的位置，与所述电路区域中元器件位置之间的重叠区域，所述机器学习模型为基于包含不同缺陷及电路区域的样本分析图像进行训练而得到；/n根据所述重叠区域和缺陷的类型分析所述缺陷对所述面板中电路造成的影响；/n根据所述缺陷对所述面板中电路造成的影响，获取所述电路中元器件的受损程度；/n根据所述受损程度确定缺陷修复策略，并根据所述缺陷修复策略生成所述面板对应的缺陷分析结果，其中不同类型的缺陷及其所在的位置对应不同的缺陷分析结果，所述受损程度包括多个等级，不同等级受损程度对应不同的缺陷修复策略。/n