[发明专利]一种面板缺陷分析方法、装置及存储介质

说明书

本发明实施例公开了一种面板缺陷分析方法、装置及存储介质，本发明实施例可以获取待分析的面板对应的面板图像；对所述面板图像中的缺陷进行检测，得到缺陷的位置和类型；按照预设策略对所述面板图像进行电路区域分割，得到包括多个电路区域的电路分割图像；根据所述缺陷的位置从所述电路分割图像中，截取所述缺陷所在的电路区域，得到待分析图像；通过机器学习模型并基于所述待分析图像和所述缺陷的类型，分析所述缺陷对所述面板中电路造成的影响，得到缺陷分析结果。该方案实现了自动对面板缺陷进行检测及分析，而无需工人参与，不仅减少了人工的工作量，而且提高了对面板进行缺陷分析的准确性及效率。

技术领域

本发明涉及面板检测技术领域，具体涉及一种面板缺陷分析方法、装置及存储介质。

背景技术

产品质量是制造业最为重视的生产指标之一，为了保证产品质量，在产品生产过程中对产品进行缺陷检测成为不可或缺的工序，例如，以薄膜晶体管液晶显示器(TFT-LCD，Thin Film Transistor-Liquid Crystal Display)为例，每条产线都需要对TFT-LCD进行缺陷检测。

现有技术中，在对TFT-LCD进行缺陷检测的过程中，需要采集TFT-LCD 的图像，并利用传统的图像分析方法对特定的缺陷进行识别，从而实现对特定的缺陷部分进行判定和检测，然后由人工根据检测出的缺陷，评估和分析该缺陷对产品以及产品生产流程造成的影响，以及由人工决定后续针对该缺陷所需采取的处理方式。

在对现有技术的研究和实践过程中，本发明的发明人发现，现有方法仅对特定的缺陷进行简单检测，而且后续需要工人进行评估和分析，由于人工评估人工评估存在主观判断的差异和疲劳等因素会导致的误判及效率低下的问题，因此不仅消耗了大量的人力，而且导致分析结果非常不准确及效率低。

发明内容

本发明实施例提供一种面板缺陷分析方法、装置及存储介质，旨在提高对面板进行缺陷分析的准确性及效率。

为解决上述技术问题，本发明实施例提供以下技术方案：

一种面板缺陷分析方法，包括：

获取待分析的面板对应的面板图像；

对所述面板图像中的缺陷进行检测，得到缺陷的位置和类型；

按照预设策略对所述面板图像进行电路区域分割，得到包括多个电路区域的电路分割图像；

根据所述缺陷的位置从所述电路分割图像中，截取所述缺陷所在的电路区域，得到待分析图像；

通过机器学习模型并基于所述待分析图像和所述缺陷的类型，分析所述缺陷对所述面板中电路造成的影响，得到缺陷分析结果。

一种面板缺陷分析装置，包括：

获取单元，用于获取待分析的面板对应的面板图像；

检测单元，用于对所述面板图像中的缺陷进行检测，得到缺陷的位置和类型；

分割单元，用于按照预设策略对所述面板图像进行电路区域分割，得到包括多个电路区域的电路分割图像；

截取单元，用于根据所述缺陷的位置从所述电路分割图像中，截取所述缺陷所在的电路区域，得到待分析图像；

分析单元，用于通过机器学习模型并基于所述待分析图像和所述缺陷的类型，分析所述缺陷对所述面板中电路造成的影响，得到缺陷分析结果。

一种存储介质，所述存储介质存储有多条指令，所述指令适于处理器进行加载，以执行本发明实施例提供的任一种面板缺陷分析方法中的步骤。