[发明专利]天线球面近场测量中采样位置误差校正方法和装置有效
| 申请号： | 201810872188.7 | 申请日： | 2018-08-02 |
| 公开（公告）号： | CN109241565B | 公开（公告）日： | 2020-09-29 |
| 发明（设计）人： | 王卫民;刘元安;陈艳婷;吴永乐;肖雳 | 申请（专利权）人： | 北京邮电大学 |
| 主分类号： | G06F30/20 | 分类号： | G06F30/20 |
| 代理公司： | 北京风雅颂专利代理有限公司 11403 | 代理人： | 陈宙 |
| 地址： | 100876 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开一种天线球面近场测量中采样位置误差校正方法和装置，该方法包括步骤：对被测天线进行球面近场测量，建立天线模型，获取带有位置误差的误差近场数据；通过误差近场数据求取有偏差的球面波模系数；通过泰勒级数对球面波模系数进行校正，得到校正球面波模系数。该装置包括测量仿真模块、波模系数模块和泰勒校正模块。本发明的天线球面近场测量中采样位置误差校正方法和装置，通过将泰勒级数方法应用到天线球面近场测量采样位置误差校正中，可以有效地对由于采样位置误差造成的近场数据进行校正，从而得到与理想远场辐射特性更为接近的转换的远场结果。 | ||
| 搜索关键词： | 天线 球面 近场 测量 采样 位置 误差 校正 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.天线球面近场测量中采样位置误差校正方法，其特征在于，包括步骤：对被测天线进行球面近场测量，建立天线模型，获取带有位置误差的误差近场数据；通过所述误差近场数据求取有偏差的球面波模系数；通过泰勒级数对所述球面波模系数进行校正，得到校正球面波模系数。
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