[发明专利]天线球面近场测量中采样位置误差校正方法和装置

权利要求书

1.天线球面近场测量中采样位置误差校正方法，其特征在于，包括步骤：

对被测天线进行球面近场测量，建立天线模型，获取带有位置误差的误差近场数据；

通过所述误差近场数据求取有偏差的球面波模系数；

通过泰勒级数对所述球面波模系数进行校正，得到校正球面波模系数。

2.根据权利要求1所述的天线球面近场测量中采样位置误差校正方法，其特征在于，所述通过泰勒级数对所述球面波模系数进行校正，包括步骤：

将球面波模系数与具体位置误差值进行对应，通过泰勒级数公式进行校正：

其中，x代表近场数据中的正确采样距离，x₀代表有误差的采样距离，n代表校正阶数，x-x₀即为具体位置误差值，o((x-x₀)ⁿ)为泰勒级数转换中的误差。

3.根据权利要求1所述的天线球面近场测量中采样位置误差校正方法，其特征在于，所述通过所述误差近场数据求取有偏差的球面波模系数，包括步骤：

将所述误差近场数据通过如下公式进行转换得到球面波模系数：

其中a_mn,b_mn就是所述球面波模系数，是近场数据电场在θ，方向上的分量，

其中是归一化连带勒让德函数，是第二类球汉克尔函数；n＝0,1,2,.....N，m＝0,±1，±2，...±n,其中N是天线场展开式中最高阶模的阶数，a是以坐标原点为中心，能包围待测天线的最小球的半径，λ是波长，k是波数，r是测试天线的实际距离。

4.根据权利要求3所述的天线球面近场测量中采样位置误差校正方法，其特征在于：

所述步骤建立天线模型之后还包括步骤：通过仿真构建被测天线的目标远场辐射图；

所述步骤获取带有位置误差的误差近场数据之后还包括步骤：

基于如下天线远近场转换公式，将所述误差近场数据转换为误差远场数据：

其中，与为球面波函数，a_mn与b_mn为球面波模系数，

为球面坐标系，

代表θ、方向上的单位向量；

根据所述误差远场数据，构建误差远场辐射图；

将所述目标远场辐射图与所述误差远场辐射图进行对比。

5.根据权利要求4所述的天线球面近场测量中采样位置误差校正方法，其特征在于，所述步骤得到校正球面波模系数，之后还包括步骤：

根据所述校正球面波模系数，通过所述天线远近场转换公式转换得到校正后的远场数据，构建校正远场辐射图；

将所述校正远场辐射图与所述目标远场辐射图进行对比。

6.根据权利要求2-5任一项所述的天线球面近场测量中采样位置误差校正方法，其特征在于，所述校正阶数n取值为4。

7.天线球面近场测量中采样位置误差校正装置，其特征在于，包括测量仿真模块、波模系数模块和泰勒校正模块；

所述测量仿真模块，用于对被测天线进行球面近场测量，建立天线模型，获取带有位置误差的误差近场数据；

所述波模系数模块，用于通过所述误差近场数据求取有偏差的球面波模系数；

所述泰勒校正模块，用于通过泰勒级数对所述球面波模系数进行校正，得到校正球面波模系数。

8.根据权利要求7所述的天线球面近场测量中采样位置误差校正装置，其特征在于，所述波模系数模块，用于将所述误差近场数据转换得到球面波模系数。

9.根据权利要求8所述的天线球面近场测量中采样位置误差校正装置，其特征在于，所述泰勒校正模块，用于将球面波模系数与具体位置误差值进行对应，通过泰勒级数公式进行校正。

10.根据权利要求9所述的天线球面近场测量中采样位置误差校正装置，其特征在于，还包括转换模块和对比模块；

所述转换模块，用于基于天线远近场转换公式，将所述误差近场数据转换为误差远场数据，根据所述误差远场数据，构建误差远场辐射图；

所述测量仿真模块，还用于通过仿真构建被测天线的目标远场辐射图；

所述对比模块，用于将所述目标远场辐射图与所述误差远场辐射图进行对比；

所述泰勒校正模块，还用于根据所述校正球面波模系数，通过所述天线远近场转换公式转换得到校正后的远场数据，构建校正远场辐射图；

所述对比模块，还用于将所述校正远场辐射图与所述目标远场辐射图进行对比。