[发明专利]一种基于SiPLS的近红外光谱法测定大米中水分含量的方法在审
| 申请号： | 201810858519.1 | 申请日： | 2018-07-31 |
| 公开（公告）号： | CN109211829A | 公开（公告）日： | 2019-01-15 |
| 发明（设计）人： | 苗雪雪;苗莹;龚浩如;陶曙华;陈英姿;陈祖武 | 申请（专利权）人： | 湖南省水稻研究所 |
| 主分类号： | G01N21/3563 | 分类号： | G01N21/3563;G01N21/359 |
| 代理公司： | 佛山粤进知识产权代理事务所(普通合伙) 44463 | 代理人： | 张敏 |
| 地址： | 410125 湖南省*** | 国省代码： | 湖南;43 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于SiPLS的近红外光谱法测定大米中水分含量的方法，包括：采用X‑Y残差分析法对异常样本进行了剔除，运用经典Kennard‑Stone法对校正集及预测集样本进行了选取，利用二阶导数对近红外光谱进行了预处理优化，采用SiPLS法将光谱划分为25个子区间，利用其中的第3、9、18、20号4个子区间联合建立了大米中水分模型，校正集决定系数为0.9573，校正集均方根误差为0.3886。利用40个验证集样品对定标模型进行了验证，预测相关系数达0.9625，平均预测回收率为100.27％，说明模型具有良好的预测能力。相较于全谱建模，采用SiPLS法建立的模型不仅精简，还提高了模型的预测精度。本发明的方法作为一种准确、无损、环保的检测手段，能够用于大米中水分含量的快速测定。 | ||
| 搜索关键词： | 校正集 大米 近红外光谱法 预测 预处理 近红外光谱 均方根误差 验证集样品 预测集样本 残差分析 定标模型 二阶导数 快速测定 水分模型 预测能力 建模 全谱 光谱 无损 回收率 剔除 样本 验证 检测 环保 优化 联合 | ||
【主权项】：
1.一种基于SiPLS的近红外光谱法测定大米中水分含量的方法，其特征在于，包括以下步骤：(1)采用国标GB5009.3‑2016的干燥法检测大米中水分含量，得到化学值；(2)利用近红外仪器扫描大米,得到大米的近红外光谱；(3)对异常光谱进行剔除，然后选出校正集和预测集，优化光谱预处理方法，采用SiPLS法筛选特征波长区间；(4)采用筛选后的参数建立近红外模型；(5)分别采用内部交叉验证法和外部检验法对模型的准确度和可靠性进行验证。
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