[发明专利]一种基于SiPLS的近红外光谱法测定大米中水分含量的方法在审
| 申请号： | 201810858519.1 | 申请日： | 2018-07-31 |
| 公开（公告）号： | CN109211829A | 公开（公告）日： | 2019-01-15 |
| 发明（设计）人： | 苗雪雪;苗莹;龚浩如;陶曙华;陈英姿;陈祖武 | 申请（专利权）人： | 湖南省水稻研究所 |
| 主分类号： | G01N21/3563 | 分类号： | G01N21/3563;G01N21/359 |
| 代理公司： | 佛山粤进知识产权代理事务所(普通合伙) 44463 | 代理人： | 张敏 |
| 地址： | 410125 湖南省*** | 国省代码： | 湖南;43 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 校正集 大米 近红外光谱法 预测 预处理 近红外光谱 均方根误差 验证集样品 预测集样本 残差分析 定标模型 二阶导数 快速测定 水分模型 预测能力 建模 全谱 光谱 无损 回收率 剔除 样本 验证 检测 环保 优化 联合 | ||
1.一种基于SiPLS的近红外光谱法测定大米中水分含量的方法，其特征在于，包括以下步骤：
(1)采用国标GB5009.3-2016的干燥法检测大米中水分含量，得到化学值；
(2)利用近红外仪器扫描大米,得到大米的近红外光谱；
(3)对异常光谱进行剔除，然后选出校正集和预测集，优化光谱预处理方法，采用SiPLS法筛选特征波长区间；
(4)采用筛选后的参数建立近红外模型；
(5)分别采用内部交叉验证法和外部检验法对模型的准确度和可靠性进行验证。
2.根据权利要求1所述的基于SiPLS的近红外光谱法测定大米中水分含量的方法，其特征在于，其中步骤(3)中，对异常光谱进行剔除的方法包括：霍特林T2统计法，X-Y残差分析法和3D视图分析法。
3.根据权利要求1所述的基于SiPLS的近红外光谱法测定大米中水分含量的方法，其特征在于，其中步骤(3)中，所述光谱预处理方法包括：平滑、归一化、一阶导数、多元散射校正、标准正态交换、二阶导数中的一种或几种。
4.根据权利要求3所述的基于SiPLS的近红外光谱法测定大米中水分含量的方法，其特征在于，将全光谱分为5到40个区间，建立和比较了2、3、4个子区间组合的最佳PLS模型。
5.根据权利要求1所述的基于SiPLS的近红外光谱法测定大米中水分含量的方法，其特征在于，包括：在不同的时间和不同的天气状态下，对检测大米所处的环境预先调节，使之各项环境指标稳定。
6.根据权利要求1所述的基于SiPLS的近红外光谱法测定大米中水分含量的方法，其特征在于，包括：对不同收割年份的大米，进行检测建模。
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