[发明专利]一种TFT液晶基板玻璃析晶温度的测试方法在审
| 申请号： | 201810848060.7 | 申请日： | 2018-07-27 |
| 公开（公告）号： | CN108663393A | 公开（公告）日： | 2018-10-16 |
| 发明（设计）人： | 郭萍莉;曾召;孔令歆;兰静 | 申请（专利权）人： | 彩虹显示器件股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N25/12 | 分类号： | G01N25/12 |
| 代理公司： | 西安通大专利代理有限责任公司 61200 | 代理人： | 徐文权 |
| 地址： | 712021 陕*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明提供一种TFT液晶基板玻璃析晶温度的测试方法，包括以下步骤，步骤1，制备测试样品：将无缺陷的TFT液晶基板玻璃制成0.6mm～2.0mm之间颗粒，洗涤、干燥；去除铁杂质，得到测试样品；步骤2，将测试样品均匀放入铂金舟器皿中，将铂金舟放入梯度炉内保温；步骤3，从梯度炉中取出保温后的测试样品，冷却后使测试样品剥离铂金舟，在显微镜下开始观测测试样品，标注析晶开始位置与析晶结束位置；步骤4，根据梯度炉软件提供的温度拟合公式，计算出TFT液晶基板玻璃的析晶上限温度。本发明采用梯度炉自带的温度拟合公式，提高了测量的准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 测试样品 析晶 基板玻璃 梯度炉 铂金 拟合公式 放入 制备测试样品 测试 开始位置 软件提供 内保温 铁杂质 器皿 自带 显微镜 去除 保温 标注 洗涤 冷却 剥离 测量 观测 取出 | ||
【主权项】：
1.一种TFT液晶基板玻璃析晶温度的测试方法，其特征在于，包括以下步骤，步骤1，制备测试样品：将无缺陷的TFT液晶基板玻璃制成0.6mm～2.0mm之间颗粒，洗涤、干燥；去除铁杂质，得到测试样品；步骤2，将制得的测试样品均匀放入铂金舟器皿中，再将铂金舟放入梯度炉内保温；步骤3，从梯度炉中取出保温后的测试样品，冷却后使测试样品剥离铂金舟，在显微镜下开始观测测试样品，标注析晶开始位置与析晶结束位置；步骤4，采用的梯度炉软件中嵌有反映温度与梯度炉位置关系的温度拟合公式，根据梯度炉软件提供的温度拟合公式，计算出TFT液晶基板玻璃的析晶上限温度。
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