[发明专利]一种TFT液晶基板玻璃析晶温度的测试方法

说明书

本发明提供一种TFT液晶基板玻璃析晶温度的测试方法，包括以下步骤，步骤1，制备测试样品：将无缺陷的TFT液晶基板玻璃制成0.6mm～2.0mm之间颗粒，洗涤、干燥；去除铁杂质，得到测试样品；步骤2，将测试样品均匀放入铂金舟器皿中，将铂金舟放入梯度炉内保温；步骤3，从梯度炉中取出保温后的测试样品，冷却后使测试样品剥离铂金舟，在显微镜下开始观测测试样品，标注析晶开始位置与析晶结束位置；步骤4，根据梯度炉软件提供的温度拟合公式，计算出TFT液晶基板玻璃的析晶上限温度。本发明采用梯度炉自带的温度拟合公式，提高了测量的准确性。

技术领域

本发明属于液晶显示器用玻璃性能检测领域，涉及一种TFT液晶基板玻璃析晶温度的测试方法。

背景技术

随着TFT液晶显示器技术的不断发展，各类显示器生产工艺不断优化，因此对显示器生产使用的材料性能要求越来越高。基板玻璃作为液晶显示器生产的关键材料之一，只有不断优化料方，提高产品性能，才能够满足液晶显示器生产的需要。

析晶温度是基板玻璃生产中的一项关键工艺性能指标，它关系到基板玻璃成型生产及基板玻璃的产品质量，只有将基板玻璃的析晶温度控制在一定的温度以下，才能够保证成型生产的正常进行。析晶温度与玻璃成分、玻璃结构及玻璃分相等因素有关，通过测试不同料方的析晶温度，可以优选或优化玻璃料方，对于液晶基板玻璃采取溢流下拉法成型工艺，更需要提供玻璃的析晶温度，因此，准确测试液晶基板玻璃不同料方的析晶温度，对于液晶基板玻璃生产工艺的制定、产品质量的控制具有一定的现实意义。

玻璃析晶温度的测试方法有梯度炉法、淬火法、高温显微镜法等等，最常用的方法是梯度炉法，早期梯度炉法测试液晶基板玻璃的析晶温度要在测试前先对梯度炉的温度梯度进行标定，以求得炉内温度沿炉长的温度分布，其方法是首先对梯度炉升温，当炉内温度升至设定的最高温度时，保温一定时间，使炉内温度达到平衡，然后由炉管一端向另一端插入热电偶，按每次1厘米逐渐向内测量，再向外移动热电偶，并让热电偶在各点停留10分钟。每移动一次记录其温度和距离，直到热电偶移动到炉口为止，为降低炉内各点温度测试的误差，需要多次重复测试，求得平均值，然后在直角坐标系上以移动距离为横坐标，温度为纵坐标，绘制出炉内的温度梯度分布曲线，在具体实验时将放有样品的瓷舟放置于已知的温度范围内，并测得所处的位置，然后闭塞炉门，按设定的工艺保温，保温结束，迅速取出样品，在显微镜下从高温开始观察，确定样品的析晶状况，开始出现析晶的位置所对应的温度为析晶上限温度。晶体消失的位置所对应的温度为析晶下限温度。把所确定的位置对应放到事先绘制好的温度梯度曲线上，由曲线查出析晶上限和下限温度值。

这种测试方法存在以下缺点：

1、不同的操作人员，对梯度炉中的温度标定值存在人为误差，使得梯度炉温度曲线准确性降低。

2、测试前对梯度炉的标定是在1200℃以上的高温下进行的，既存在高温作业安全问题，同时高温作业产生的误差不可避免。

发明内容

针对现有技术中存在的问题，本发明提供一种TFT液晶基板玻璃析晶温度的测试方法，该方法能够准确测试液晶基板玻璃的析晶温度。

本发明是通过以下技术方案来实现：

一种TFT液晶基板玻璃析晶温度的测试方法，包括以下步骤，

步骤1，制备测试样品：将无缺陷的TFT液晶基板玻璃制成0.6mm～2.0mm之间颗粒，洗涤、干燥；去除铁杂质，得到测试样品；

步骤2，将制得的测试样品均匀放入铂金舟器皿中，再将铂金舟放入梯度炉内保温；

步骤3，从梯度炉中取出保温后的测试样品，冷却后使测试样品剥离铂金舟，在显微镜下开始观测测试样品，标注析晶开始位置与析晶结束位置；