[发明专利]检测装置及其控制方法在审
| 申请号： | 201810788989.5 | 申请日： | 2018-07-18 |
| 公开（公告）号： | CN109959651A | 公开（公告）日： | 2019-07-02 |
| 发明（设计）人： | 金承铉;黃奎渊 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社 |
| 主分类号： | G01N21/78 | 分类号： | G01N21/78 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 邵亚丽 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 提出了一种检测装置及其控制方法。所述检测装置包括：检测器，配置为测量形成于反应器上的对照线和检测线上的光学特征值；控制器，配置为获得由检测器在对照线上测量的光学特征值，基于预设的反应时间信息确定对应于对照线上测量的光学特征值的反应时间，并基于所确定的反应时间确定检测器在检测线上测量另一光学特征值的测量时间。 | ||
| 搜索关键词： | 测量 检测器 对照线 检测装置 检测线 时间确定 时间信息 反应器 控制器 种检测 配置 预设 | ||
【主权项】：
1.一种检测装置，包括：检测器，所述检测器被配置为测量反应器上形成的对照线和检测线上的光学特征值；控制器，所述控制器被配置为：获得所述对照线上由所述检测器测量的光学特征值；基于预设的反应时间信息确定对应于所述对照线上测量的光学特征值的反应时间；基于所确定的反应时间确定所述检测器在所述检测线上测量另一光学特征值的测量时间。
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