[发明专利]检测装置及其控制方法

权利要求书

1.一种检测装置，包括：

检测器，所述检测器被配置为测量反应器上形成的对照线和检测线上的光学特征值；

控制器，所述控制器被配置为：

获得所述对照线上由所述检测器测量的光学特征值；

基于预设的反应时间信息确定对应于所述对照线上测量的光学特征值的反应时间；

基于所确定的反应时间确定所述检测器在所述检测线上测量另一光学特征值的测量时间。

2.根据权利要求1所述检测装置，其中所述反应时间包括经过的反应时间或剩余反应时间。

3.根据权利要求1所述检测装置，其中所述预设的反应时间信息包括将预设的光学特征值与相应的反应时间匹配的信息。

4.根据权利要求2所述检测装置，其中，基于所述反应时间包括所述经过的反应时间，所述控制器还被配置成基于所述经过的反应时间和预期反应完成时间来确定测量时间。

5.根据权利要求2所述检测装置，其中，基于所述反应时间包括所述剩余反应时间，所述控制器还被配置成基于所述剩余反应时间和当前时间来确定测量时间。

6.根据权利要求1所述检测装置，还包括：

存储器，所述存储器被配置为当所述反应时间信息被所述检测装置使用与所述反应器相关联的信息获得时，存储所述预设的反应时间信息。

7.根据权利要求2所述检测装置，还包括：

显示器，所述显示器被配置为显示所述反应时间。

8.根据权利要求1所述检测装置，其中所述控制器还被配置为把对照线上测量的光学特征值的饱和值与预设饱和值进行比较，并基于比较的结果确定是否发生了错误。

9.根据权利要求8所述检测装置，其中所述控制器还被配置为基于在对照线上测量的光学特征值的饱和值小于预设饱和值而输出识别已发生了错误的信息。

10.根据权利要求8所述检测装置，其中所述控制器还被配置为基于对照线上测量的光学特征值的变化在预设时间段内小于预设参考变化来确定在对照线上测量的光学特征值是饱和的。

11.一种检测装置的控制方法，所述控制方法包括：

通过所述检测装置获取用于对照线的预设的反应时间信息；

通过所述检测装置测量对照线上的光学特征值；

通过所述检测装置基于所述预设的反应时间信息来确定对应于在对照线上测量的光学特征值的反应时间；以及

通过所述检测装置基于所述反应时间来确定所述检测装置在检测线上测量另一光学特征值的测量时间。

12.根据权利要求11所述控制方法，其中所述反应时间包括经过的反应时间或剩余反应时间。

13.根据权利要求11所述控制方法，其中所述预设的反应时间信息包括将预设的光学特征值与相应的反应时间映射的信息。

14.根据权利要求12所述控制方法，其中，基于反应时间包括所述经过的反应时间，确定测量时间包括基于所述经过的反应时间和预期反应完成时间来确定测量时间。

15.根据权利要求12所述控制方法，其中，基于所述反应时间包括所述剩余反应时间，确定测量时间包括基于所述剩余反应时间和当前时间来确定测量时间。