[发明专利]一种微米孔通孔内壁质量的无损检测方法有效
| 申请号： | 201810784210.2 | 申请日： | 2018-07-17 |
| 公开（公告）号： | CN109187674B | 公开（公告）日： | 2020-06-19 |
| 发明（设计）人： | 袁志山;谢志鹏;王成勇 | 申请（专利权）人： | 广东工业大学 |
| 主分类号： | G01N27/27 | 分类号： | G01N27/27 |
| 代理公司： | 广州粤高专利商标代理有限公司 44102 | 代理人： | 林丽明 |
| 地址： | 510006 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及微米孔通孔内壁质量的无损检测方法，涉及一种微米孔通孔内壁质量的无损检测方法。将待测微米孔样件固定于装有电解质溶液的电解池中间，微米孔样件将电解池中电解质溶液分成两部分，电解质溶液只能从微米孔样件通孔实现互通。接着将直流电源正负极电极分别插入微米孔样件两侧溶液中，施加电压后，两个电极间通过微米孔形成一个离子电流通路。电解池中探针通过夹持装置装夹在推进装置上，通过推进装置推进探针进入微米孔内，检测探针在进入微米孔内时阻塞电流变化的情况，从而实现对微米孔内壁质量的检测。本发明根据检测到的阻塞电流信号变化，对电流信号的分析实现对微米孔通孔内壁质量的快捷有效无损检测，保障产品生产过程中的质量控制。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 微米 孔通孔 内壁 质量 无损 检测 方法 | ||
【主权项】：
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