[发明专利]一种测试电子元器件的装置在审
| 申请号： | 201810735254.6 | 申请日： | 2018-07-06 |
| 公开（公告）号： | CN109143025A | 公开（公告）日： | 2019-01-04 |
| 发明（设计）人： | 张晓民 | 申请（专利权）人： | 江苏奥尼克电气股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京盛凡智荣知识产权代理有限公司 11616 | 代理人： | 曾龙 |
| 地址： | 221011 江苏省*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 一种测试电子元器件的装置，包括电子元件固定架、测试电源，在所述电子元件固定架上设有固定凹槽，电子元件设置在所述固定凹槽中；在所述测试电源上设有测试针。本发明的电子元件设置在固定凹槽中，可以在固定凹槽中移动调整位置，方便测试。将测试针设置在固定件中，可以保证测试针的稳固性。 | ||
| 搜索关键词： | 固定凹槽 测试针 测试电子元器件 测试电源 固定架 移动调整位置 固定件 稳固性 测试 保证 | ||
【主权项】：
1.一种测试电子元器件的装置，其特征在于，包括电子元件固定架、测试电源，在所述电子元件固定架上设有固定凹槽，电子元件设置在所述固定凹槽中；在所述测试电源上设有测试针。
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