[发明专利]一种测试电子元器件的装置

说明书

一种测试电子元器件的装置，包括电子元件固定架、测试电源，在所述电子元件固定架上设有固定凹槽，电子元件设置在所述固定凹槽中；在所述测试电源上设有测试针。本发明的电子元件设置在固定凹槽中，可以在固定凹槽中移动调整位置，方便测试。将测试针设置在固定件中，可以保证测试针的稳固性。

技术领域

本发明具体涉及一种测试电子元器件的装置。

背景技术

随着电子装置日渐轻薄短小，集成电路芯片的速度及复杂性相对越来越高，因此对于集成电路芯片模块可靠度的要求也越来越高。因此，为保证集成电路芯片模块一切运作正常，满足使用上的要求，通常会进行一些功能测试。

发明内容

本发明的目的是为了解决现有技术的不足，提供一种测试电子元器件的装置。

本发明的目的是通过以下技术方案实现的：

一种测试电子元器件的装置，包括电子元件固定架、测试电源，在所述电子元件固定架上设有固定凹槽，电子元件设置在所述固定凹槽中；在所述测试电源上设有测试针。

进一步，在所述电子元件固定架的左侧设有水平固定板，右侧设有竖直固定板，所述水平固定板和竖直固定板之间形成所述固定凹槽。

进一步，所述测试针设置在固定件中。

综上所述，由于采用了上述技术方案，本发明与现有技术相比，有以下优点：

本发明的电子元件设置在固定凹槽中，可以在固定凹槽中移动调整位置，方便测试。将测试针设置在固定件中，可以保证测试针的稳固性。

附图说明

图1是本发明一种测试电子元器件的装置的结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图对本发明的具体实施方式作进一步详细介绍。

请参见图1，本发明一种测试电子元器件的装置，包括电子元件固定架1、测试电源2，在电子元件固定架上设有固定凹槽，电子元件3设置在固定凹槽中。

在电子元件固定架1的左侧设有水平固定板11，右侧设有竖直固定板12，水平固定板 11和竖直固定板12之间形成上述固定凹槽。

在测试电源2上设有测试针4，测试针4设置在固定件5中。

本发明的电子元件3设置在固定凹槽中，可以在固定凹槽中移动调整位置，方便测试。将测试针4设置在固定件5中，可以保证测试针4的稳固性。

以上所述的实施例仅用于说明本发明的技术思想及特点，其目的在于使本领域内的技术人员能够了解本发明的内容并据以实施，不能仅以本实施例来限定本发明的专利范围，即凡依本发明所揭示的精神所作的同等变化或修饰，仍落在本发明的专利范围内。