[发明专利]光学对准标记、光学定位方法以及半导体器件有效
申请号: | 201810729606.7 | 申请日: | 2018-07-05 |
公开(公告)号: | CN108878401B | 公开(公告)日: | 2020-04-21 |
发明(设计)人: | 屠礼明;周毅 | 申请(专利权)人: | 长江存储科技有限责任公司 |
主分类号: | H01L23/544 | 分类号: | H01L23/544;H01L21/68 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 周全 |
地址: | 430205 湖北省武汉市洪山区东*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 本发明提供一种光学对准标记、光学定位方法以及半导体器件。该光学对准标记包括:主识别部,所述主识别部为中心对称图形,且具有沿至少两个方向的线条;以及至少一个辅助识别部,该辅助识别部为中心对称图形,且具有与所述主识别部相同的对称中心,该辅助识别部具有至少两个线条,且所述辅助识别部的线条的线宽与所述主识别部的线条的线宽不同。因此,当主识别部或辅助识别部的其中一方未被测量设备识别时,另一方仍有可能被测量设备识别,从而能提高光学对准标记的识别度,达到光学对准的目的。 | ||
搜索关键词: | 光学 对准 标记 定位 方法 以及 半导体器件 | ||
【主权项】:
1.一种光学对准标记,其特征在于,包括:主识别部,所述主识别部为中心对称图形,且具有沿至少两个方向的线条;以及至少一个辅助识别部,该辅助识别部为中心对称图形,且具有与所述主识别部相同的对称中心,该辅助识别部具有至少两个线条,且所述辅助识别部的线条的线宽与所述主识别部的线条的线宽不同。
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