[发明专利]一种缺陷检测方法、系统与装置、计算机可读存储介质在审
| 申请号： | 201810725240.6 | 申请日： | 2018-07-04 |
| 公开（公告）号： | CN110687119A | 公开（公告）日： | 2020-01-14 |
| 发明（设计）人： | 姜仔达 | 申请（专利权）人： | 东腾投资集团有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/88 | 分类号： | G01N21/88 |
| 代理公司： | 11262 北京安信方达知识产权代理有限公司 | 代理人： | 王康;龙洪 |
| 地址： | 100012 北京市朝阳区红军营南路1*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种缺陷检测方法、系统与装置、计算机可读存储介质，所述缺陷检测方法包括：照射被检测物，采集照射的被检测物的图像；计算采集的图像中像素点的灰度值；根据计算的采集的图像中像素点的灰度值确定缺陷区域。本申请公开的缺陷检测方法、系统与装置、计算机可读存储介质，通过根据计算的采集的图像中像素点的灰度值确定缺陷区域，实现了自动化缺陷检测，避免了人工检测发生的误检、漏检等问题，保证了检测的品质，降低了人力成本。 | ||
| 搜索关键词： | 缺陷检测 像素点 灰度 图像 采集 计算机可读存储介质 被检测物 缺陷区域 照射 人工检测 人力成本 漏检 误检 申请 自动化 检测 保证 | ||
【主权项】：
1.一种缺陷检测方法，其特征在于，包括：/n照射被检测物；/n采集照射的被检测物的图像；/n计算采集的图像中像素点的灰度值；/n根据计算的采集的图像中像素点的灰度值确定缺陷区域。/n
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