[发明专利]一种缺陷检测方法、系统与装置、计算机可读存储介质

权利要求书

1.一种缺陷检测方法，其特征在于，包括：

照射被检测物；

采集照射的被检测物的图像；

计算采集的图像中像素点的灰度值；

根据计算的采集的图像中像素点的灰度值确定缺陷区域。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于：

所述计算采集的图像中像素点的灰度值，包括：

将所述采集的图像进行区域划分；

计算区域划分的各区域内相邻像素点的灰度值的差值绝对值；

所述根据计算的采集的图像中像素点的灰度值确定缺陷区域，包括：

将所述各区域内相邻像素点的灰度值的差值绝对值与预设第一阈值进行比较；

将相邻像素点的灰度值的差值绝对值大于或等于所述预设第一阈值的区域确定为缺陷区域。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于：所述方法还包括：

根据预设标准灰度阈值和所述预设第一阈值，计算亮缺陷阈值和暗缺陷阈值：

所述亮缺陷阈值＝所述预设标准灰度阈值+所述预设第一阈值；

所述暗缺陷阈值＝所述预设标准灰度阈值-所述预设第一阈值；

在所述将相邻像素点的灰度值的差值绝对值大于或等于所述预设第一阈值的区域确定为缺陷区域之后，所述方法还包括：

将所述缺陷区域的像素点的灰度值与所述亮缺陷阈值和所述暗缺陷阈值进行比较；

当所述缺陷区域的像素点的灰度值大于或等于所述亮缺陷阈值时，确定所述缺陷区域的缺陷为亮缺陷；

当所述缺陷区域的像素点的灰度值小于或等于所述暗缺陷阈值时，确定所述缺陷区域的缺陷为暗缺陷。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于：

所述计算采集的图像中像素点的灰度值，包括：

将所述采集的图像进行区域划分；

计算区域划分的各区域内所有像素点的平均灰度值；

所述根据计算的采集的图像中像素点的灰度值确定缺陷区域，包括：

将所述各区域内所有像素点的平均灰度值与预设第二阈值进行比较；

将所有像素点的平均灰度值大于或等于所述预设第二阈值的区域确定为缺陷区域。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于：

所述计算采集的图像中像素点的灰度值，包括：

将所述采集的图像进行区域划分；

计算区域划分的各区域内所有像素点的平均灰度值；

所述根据计算的采集的图像中像素点的灰度值确定缺陷区域，包括：

将所述各区域内所有像素点的平均灰度值与被检测物整体的平均灰度值进行比较；

将所有像素点的平均灰度值与被检测物整体的平均灰度值的差值超出预设第三阈值的区域确定为缺陷区域。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于：所述根据计算的采集的图像中像素点的灰度值确定缺陷区域之后，所述方法还包括：

保存所述采集的图像或所述采集的图像中包含所述缺陷区域的部分图像，并且记录每一所述缺陷区域在所述被检测物上的相对位置信息。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于：所述相对位置信息包括X轴位置信息和Y轴位置信息，其中：

所述X轴位置信息通过以下方式确定：在位置传感器探测所述被检测物后开始记录所述被检测物的行进长度的信息，将采集所述被检测物的图像的时刻对应的行进长度作为所述X轴位置信息；

所述Y轴位置信息根据所述缺陷区域在所述被检测物的图像中的位置确定。

8.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，通过多个光源从不同角度照射所述被检测物。

9.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，所述光源的数量为两个，且分布在用于采集所述被检测物图像的相机的两侧。

10.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，所述光源为条形单色发光二极管LED。