[发明专利]一种阵列尺寸约束下的最优探测频率图形化估计方法有效
| 申请号： | 201810724272.4 | 申请日： | 2018-07-04 |
| 公开（公告）号： | CN109031316B | 公开（公告）日： | 2021-04-13 |
| 发明（设计）人： | 张驰;唐建生;张立琛;张晓亮 | 申请（专利权）人： | 中国船舶工业系统工程研究院 |
| 主分类号： | G01S15/08 | 分类号： | G01S15/08 |
| 代理公司： | 中国航天科技专利中心 11009 | 代理人： | 范晓毅 |
| 地址： | 100094*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： |
本发明公开了一种阵列尺寸约束下的最优探测频率图形化估计方法，包括：获取初始参数；取工作频率集，并确定工作频率集对应的吸收系数集；确定常阈值C的表达式和工作频率f |
||
| 搜索关键词： | 一种 阵列 尺寸 约束 最优 探测 频率 图形 估计 方法 | ||
【主权项】：
1.一种阵列尺寸约束下的最优探测频率图形化估计方法，其特征在于，包括：获取初始参数；其中，所述初始参数包括：平面阵长度L、平面阵宽度K、换能器发射电压Sv、换能器两端发射电压有效值U、声纳检测阈值DT、海洋环境背景噪声级NL和目标强度TS；取工作频率集为[f1,f2,…,fw]，并确定工作频率集对应的吸收系数集[α1,α2,…,αw]；其中，w≥1；确定常阈值C的表达式和工作频率fi时的频率距离相关函数yi：C＝60log(KL)+20log(U)+(Sv+TS‑NL‑DT)yi＝2*(20lg(r)+αr10‑3)+120log(c/fi)其中，r表示探测距离的关心范围，c表示声速，α表示吸收系数i＝1，2，…,w；进行图形化处理，依次绘制距离范围r内的频率距离相关曲线Yi，以及，绘制常阈值C的直线；并确定常阈值C的直线与频率距离相关曲线Yi的交点Pi(ri,C)；解算得到集合[r1,r2,…,ri,…,rw]内最大值rp，并确定工作频率fp为声纳的最优工作频率。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国船舶工业系统工程研究院，未经中国船舶工业系统工程研究院许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201810724272.4/，转载请声明来源钻瓜专利网。
