[发明专利]测定装置在审
| 申请号： | 201810723276.0 | 申请日： | 2018-07-04 |
| 公开（公告）号： | CN109211828A | 公开（公告）日： | 2019-01-15 |
| 发明（设计）人： | 节田和纪;千田直道 | 申请（专利权）人： | 横河电机株式会社 |
| 主分类号： | G01N21/3563 | 分类号： | G01N21/3563;G01N21/359 |
| 代理公司： | 北京信慧永光知识产权代理有限责任公司 11290 | 代理人： | 鹿屹;李雪春 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供一种测定装置。测定装置基于透过了检查对象物后的电磁波的检测结果来测定所述检查对象物的特性。所述测定装置具备：照射部，对所述检查对象物照射电磁波；聚光部，具有将透过了所述检查对象物后的电磁波中的、相对于与所述检查对象物对置的入射端的入射角为规定的入射角以内的电磁波朝聚光面引导的反射面；以及检测部，检测被引导至所述聚光面后的电磁波。 | ||
| 搜索关键词： | 检查对象物 电磁波 测定装置 聚光面 入射角 检测结果 反射面 聚光部 引导的 照射部 检测 对置 入射 照射 | ||
【主权项】：
1.一种测定装置，基于透过了检查对象物后的电磁波的检测结果来测定所述检查对象物的特性，其特征在于，所述测定装置具备：照射部，对所述检查对象物照射电磁波；聚光部，具有将透过了所述检查对象物后的电磁波中的、相对于与所述检查对象物对置的入射端的入射角为规定的入射角以内的电磁波朝聚光面引导的反射面；以及检测部，检测被引导至所述聚光面后的电磁波。
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