[发明专利]光耦测试装置在审
| 申请号： | 201810718406.1 | 申请日： | 2018-07-03 |
| 公开（公告）号： | CN109116137A | 公开（公告）日： | 2019-01-01 |
| 发明（设计）人： | 乐玉香;陈超;彭登富 | 申请（专利权）人： | 华立科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 杭州杭诚专利事务所有限公司 33109 | 代理人： | 尉伟敏 |
| 地址： | 310023 浙江省杭州市*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种光耦测试装置，包括电源模块、MCU模块、通讯模块、第一测试测试模块、第二测试模块和第三测试模块；电源模块分别与MCU模块、通讯模块、第一测试模块、第二测试模块和第三测试模块电连接，MCU模块分别与通讯模块、第一测试模块、第二测试模块和第三测试模块电连接。本发明分别通过第一测试模块、第二测试模块和第三测试模块进行光电耦合器的各个电器参数的测量，设备成本低廉，检测参数多，能够提高产品质量和检测效率，降低产品故障率，提高整体稳定性。 | ||
| 搜索关键词： | 测试模块 通讯模块 光耦测试装置 电源模块 电连接 产品故障率 光电耦合器 整体稳定性 电器参数 检测参数 设备成本 测量 测试 检测 | ||
【主权项】：
1.一种光耦测试装置，其特征在于，包括电源模块(1)、MCU模块(2)、通讯模块(3)、第一测试模块(4)、第二测试模块(5)和第三测试模块(6)；电源模块分别与MCU模块、通讯模块、第一测试模块、第二测试模块和第三测试模块电连接，MCU模块分别与通讯模块、第一测试模块、第二测试模块和第三测试模块电连接。
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