[发明专利]爆炸装置电路板残片识别方法在审
| 申请号： | 201810710880.X | 申请日： | 2018-07-03 |
| 公开（公告）号： | CN108961240A | 公开（公告）日： | 2018-12-07 |
| 发明（设计）人： | 赵衍运;孙彤;徐少强 | 申请（专利权）人： | 北京邮电大学 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T7/33 |
| 代理公司： | 北京天奇智新知识产权代理有限公司 11340 | 代理人： | 陆军 |
| 地址： | 100876 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本公开涉及爆炸装置电路板残片识别方法，其中在样本库中保存有样本图像及其特征点和特征描述，该方法包括步骤：1、提取残片图像的特征点；2、计算特征点的SIFT描述；3、分别计算每个特征点的SIFT描述与每个样本图像的每个特征点的SIFT描述的第一欧式距离；4、对第一欧式距离由小到大排序，选择特征点集中第一欧式距离排序靠前的多个特征点，作为的该特征点的候选匹配点；5、计算候选匹配点与该特征点的形状上下文描述之间的第二欧氏距离，保留第二欧式距离不大于预定阈值的候选匹配点，作为该特征点的匹配点集；6、在样本图像中寻找与残片图像的第一星型结构匹配的第二星型结构；7、根据星型结构之间的相似性，获得样本图像与残片图像的匹配度。 | ||
| 搜索关键词： | 特征点 欧式距离 样本图像 候选匹配 星型结构 电路板 爆炸装置 图像 排序 形状上下文 欧氏距离 匹配点集 特征描述 匹配度 样本库 匹配 保留 | ||
【主权项】：
1.一种爆炸装置电路板残片识别方法，其中，在样本库中保存有与已知电路板对应的样本图像Ii、及其特征点和特征描述，爆炸装置电路板残片对应有残片图像I0，所述方法包括以下步骤：步骤1、提取残片图像I0的特征点；步骤2、计算所述特征点的SIFT描述，形成特征点集为S0；步骤3、分别计算特征点集为S0中的每个特征点的SIFT描述与每个样本图像Ii的特征点集Si中的每个特征点的SIFT描述的第一欧式距离；步骤4、对所述第一欧式距离由小到大排序，选择特征点集Si中所述第一欧式距离排序靠前的多个特征点，作为S0的该特征点的候选匹配点；步骤5、计算候选匹配点与S0的该特征点的形状上下文描述之间的第二欧氏距离，保留第二欧式距离不大于预定阈值的候选匹配点，作为S0的该特征点的匹配点集；步骤6、建立残片图像I0的特征点的第一星型结构，并在样本图像Ii中寻找与第一星型结构匹配的第二星型结构，其中，所述第二星型结构是基于所述匹配点集建立的；步骤7、根据第二星型结构与第一星型结构的相似性，获得各个样本图像Ii与残片图像I0的匹配度。
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