[发明专利]爆炸装置电路板残片识别方法

权利要求书

1.一种爆炸装置电路板残片识别方法，其中，在样本库中保存有与已知电路板对应的样本图像I_i、及其特征点和特征描述，爆炸装置电路板残片对应有残片图像I₀，

所述方法包括以下步骤：

步骤1、提取残片图像I₀的特征点；

步骤2、计算所述特征点的SIFT描述，形成特征点集为S₀；

步骤3、分别计算特征点集为S₀中的每个特征点的SIFT描述与每个样本图像I_i的特征点集S_i中的每个特征点的SIFT描述的第一欧式距离；

步骤4、对所述第一欧式距离由小到大排序，选择特征点集S_i中所述第一欧式距离排序靠前的多个特征点，作为S₀的该特征点的候选匹配点；

步骤5、计算候选匹配点与S₀的该特征点的形状上下文描述之间的第二欧氏距离，保留第二欧式距离不大于预定阈值的候选匹配点，作为S₀的该特征点的匹配点集；

步骤6、建立残片图像I₀的特征点的第一星型结构，并在样本图像I_i中寻找与第一星型结构匹配的第二星型结构，其中，所述第二星型结构是基于所述匹配点集建立的；

步骤7、根据第二星型结构与第一星型结构的相似性，获得各个样本图像I_i与残片图像I₀的匹配度。

2.根据权利要求1所述的爆炸装置电路板残片识别方法，其中，所述特征点是Harris特征点。

3.根据权利要求1所述的爆炸装置电路板残片识别方法，其中，在步骤6中，如下建立残片图像I₀的特征点的第一星型结构：

步骤6-1、初始化残片图像I₀的当前特征点p_k，令k＝1；

步骤6-2、如果当前特征点p_k不在图像边缘区域、且不属于已确定的有效星型结构，则将其作为星型结构中心点，否则将下一特征点p_k+1作为当前特征点，重复此步骤；

步骤6-3、将特征点集S₀中的与当前特征点p_k的距离不小于星型结构阈值T_d的特征点作为以p_k为中心的星型结构的末端结点p_e；

步骤6-4、如果以p_k为中心的星型结构的所述末端结点p_e不少于特定数目，则将以p_k为中心的星型结构作为有效星型结构，将当前中心点p_k记为末端结点p_e记为

步骤6-5、将下一特征点p_k+1作为当前特征点，返回到步骤6-2，如果不存在下一特征点p_k+1，则记录全部有效星型结构，将当前中心点p_k记为末端结点p_e记为其中m＝1、…、M，M为有效星型结构的数目。