[发明专利]射频硬件的检测方法、装置、存储介质及电子设备有效

专利信息
申请号: 201810710473.9 申请日: 2018-07-02
公开(公告)号: CN110677203B 公开(公告)日: 2022-05-06
发明(设计)人: 杨亚西;詹松龄;陈军;林晓 申请(专利权)人: 北京小米松果电子有限公司
主分类号: H04B17/17 分类号: H04B17/17;H04B17/29
代理公司: 北京英创嘉友知识产权代理事务所(普通合伙) 11447 代理人: 屈婉祎;魏嘉熹
地址: 100085 北京市*** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 本公开涉及一种射频硬件的检测方法、装置、存储介质及电子设备,该方法包括:在完成配置的信号源仪表与射频硬件的第一检测端口连接后,利用软件编程对射频硬件进行配置;在打开信号源仪表的输出开关并启动完成配置的射频硬件后,通过利用预设的采样工具和解析工具,对射频硬件输出的第一测试信号进行采样和解析,以确定第一测试信号的实部和虚部;通过将第一测试信号的实部和虚部与第一参考数据进行比对,确定射频硬件是否存在故障;当射频硬件存在故障时,将信号源仪表依次与射频硬件的第二检测端口以及第三检测端口连接,并重复上述信号获取和比对步骤,直至确定射频硬件的故障位置。能够快速有效地进行故障定位,节约资源的同时降低成本。
搜索关键词: 射频 硬件 检测 方法 装置 存储 介质 电子设备
【主权项】:
1.一种射频硬件的检测方法,其特征在于,所述方法包括:/n在完成配置的信号源仪表与所述射频硬件的第一检测端口连接后,利用软件编程对所述射频硬件进行配置;/n在打开所述信号源仪表的输出开关并启动完成配置的所述射频硬件后,通过利用所述预设的采样工具和解析工具,对所述射频硬件输出的第一测试信号进行采样和解析,以确定所述第一测试信号的实部和虚部;/n通过将所述第一测试信号的实部和虚部与第一参考数据进行比对,确定所述射频硬件是否存在故障;/n当所述射频硬件存在故障时,将所述信号源仪表依次与所述射频硬件的第二检测端口以及第三检测端口连接,并重复所述通过利用所述预设的采样工具和解析工具,对所述射频硬件输出的第一测试信号进行采样和解析,以确定所述第一测试信号的实部和虚部的步骤至所述通过将所述第一测试信号的实部和虚部与第一参考数据进行比对,确定所述射频硬件是否存在故障的步骤,直至确定所述射频硬件的故障位置。/n
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京小米松果电子有限公司,未经北京小米松果电子有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201810710473.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top