[发明专利]一种全自动IC测试机

摘要

本发明公开了一种全自动IC测试机，包括柜体、L型机箱和测试平台，所述柜体前端设置有若干存储仓；本发明在结构上设计合理，实用性很高，工作时，通过手持吸盘套件将晶元吸附至晶元模具平台上，取放方便，干净无污染，上升调节气阀和下降调节气阀可实现晶元模具平台快速进入工作位置，角度调节单元可进行局部角度调节，上下调节单元可进行精细化上下移动调节，左右调节单元方便进行左右调节，多方位精细化调节可极大提高检测效率，同时精准度提升，保证了产品质量，第一显示屏可显示有CCD照看出针卡的探针与晶元的焊点是否对齐，第二显示屏可用来查看晶元测试加过和调试软件，操作方便灵活。

主权项

1.一种全自动IC测试机，包括柜体(15)、L型机箱(17)和测试平台，其特征在于，所述柜体(15)前端设置有若干存储仓(16)，所述柜体(15)上端后侧设置有L型机箱(17)，所述L型机箱(17)前端设置有第一显示屏(18)和第二显示屏(19)，所述L型机箱(17)后端设置有检修门(20)，所述柜体(15)上端前侧设置有测试平台，所述测试平台包括测试盒、L型支架和气缸，所述测试盒上端左侧设置有L型支架，所述L型支架上端左侧设置有针压调节器(1)，所述L型支架上端右侧设置有针压固定槽(2)，所述测试盒内设置有气缸，所述测试盒上端中部设置有进气阀(4)，所述测试盒右端上侧设置有上升调节气阀(10)，所述所述测试盒右端中部设置有电源开关(9)，所述测试盒前端中部设置有下降调节气阀(11)，所述气缸上端连接左右调节单元(8)，所述左右调节单元(8)上端连接有上下调节单元(7)，所述上下调节单元(7)上端设置有角度调节单元(6)，所述角度调节单元(6)上端设置有晶元模具平台(5)。