[发明专利]一种全自动IC测试机

说明书

本发明公开了一种全自动IC测试机，包括柜体、L型机箱和测试平台，所述柜体前端设置有若干存储仓；本发明在结构上设计合理，实用性很高，工作时，通过手持吸盘套件将晶元吸附至晶元模具平台上，取放方便，干净无污染，上升调节气阀和下降调节气阀可实现晶元模具平台快速进入工作位置，角度调节单元可进行局部角度调节，上下调节单元可进行精细化上下移动调节，左右调节单元方便进行左右调节，多方位精细化调节可极大提高检测效率，同时精准度提升，保证了产品质量，第一显示屏可显示有CCD照看出针卡的探针与晶元的焊点是否对齐，第二显示屏可用来查看晶元测试加过和调试软件，操作方便灵活。

技术领域

本发明涉及测试装置技术领域，具体是一种全自动IC测试机。

背景技术

晶元是生产集成电路所用的载体,多指单晶硅圆片。单晶硅圆片由普通硅砂拉制提炼，经过溶解、提纯、蒸馏一系列措施制成单晶硅棒，单晶硅棒经过抛光、切片之后，就成为了晶元，一个圆盘状的晶元片上分布有很多一格格的晶元，晶元呈阵列排布，晶元在封装制造成芯片之前需要对其性能进行检测，电子产品的各项功能离不开集成电路的发展，所以为了保证其最终的性能，集成电路在前期的测试就尤为重要，即晶元检测。

目前，由于晶片本身比较脆弱，因此在进行晶元检测时，对压力和精准度要求比较高，如果测试压力过大则会损伤晶元，压力过小则会影响测试效果；因此为了保证检测测试时的压力环境，有必要设计能够进行多方位精准调节的平台装置，同时晶元在检测移动过程中，有的人员手动进行拿取和检测，导致了生产效率低下，以及对产品造成污染影响产品质量。因此，本领域技术人员提供了一种全自动IC测试机，以解决上述背景技术中提出的问题。

发明内容

本发明的目的在于提供一种全自动IC测试机，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：

一种全自动IC测试机，包括柜体、L型机箱和测试平台，所述柜体前端设置有若干存储仓，所述柜体上端后侧设置有L型机箱，所述L型机箱前端设置有第一显示屏和第二显示屏，所述L型机箱后端设置有检修门，所述柜体上端前侧设置有测试平台，所述测试平台包括测试盒、L型支架和气缸，所述测试盒上端左侧设置有L型支架，所述L型支架上端左侧设置有针压调节器，所述L型支架上端右侧设置有针压固定槽，所述测试盒内设置有气缸，所述测试盒上端中部设置有进气阀，所述测试盒右端上侧设置有上升调节气阀，所述所述测试盒右端中部设置有电源开关，所述测试盒前端中部设置有下降调节气阀，所述气缸上端连接左右调节单元，所述左右调节单元上端连接有上下调节单元，所述上下调节单元上端设置有角度调节单元，所述角度调节单元上端设置有晶元模具平台。

作为本发明进一步的方案：所述测试盒前端下侧从左到右依次设置有上升键、下降键和解码键。

作为本发明再进一步的方案：所述气缸通过管道连接进气阀、上升调节气阀和下降调节气阀。

作为本发明再进一步的方案：所述存储仓的个数至少为两个。

作为本发明再进一步的方案：所述第一显示屏和测试平台个数相等，且均至少为三个。

作为本发明再进一步的方案：所述柜体上端边缘设置有手持吸盘套件。

与现有技术相比，本发明的有益效果是：

本发明在结构上设计合理，实用性很高，工作时，通过手持吸盘套件将晶元吸附至晶元模具平台上，取放方便，干净无污染，上升调节气阀和下降调节气阀可实现晶元模具平台快速进入工作位置，角度调节单元可进行局部角度调节，上下调节单元可进行精细化上下移动调节，左右调节单元方便进行左右调节，多方位精细化调节可极大提高检测效率，同时精准度提升，保证了产品质量，第一显示屏可显示有CCD照看出针卡的探针与晶元的焊点是否对齐，第二显示屏可用来查看晶元测试加过和调试软件，操作方便灵活。

附图说明