[发明专利]用于抛光钼的组合物和方法在审
申请号: | 201810684956.6 | 申请日: | 2013-06-10 |
公开(公告)号: | CN108977173A | 公开(公告)日: | 2018-12-11 |
发明(设计)人: | P.辛格;L.琼斯 | 申请(专利权)人: | 嘉柏微电子材料股份公司 |
主分类号: | C09K3/14 | 分类号: | C09K3/14;C09G1/02 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 邢岳 |
地址: | 美国伊*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 本发明涉及用于抛光钼的组合物和方法,具体地说,本发明提供用于抛光含钼金属的表面的组合物和方法。本文中描述的抛光组合物(浆料)包含悬浮于包含水溶性表面活性物质和氧化剂的酸性含水介质中的无机粒状研磨剂材料(例如,氧化铝或二氧化硅)的研磨剂浓缩物。所述表面活性物质是基于所述粒状研磨剂的ζ电位选择的,使得当所述研磨剂具有正的ζ电位时,所述表面活性物质包括阳离子型物质,和当所述粒状研磨剂具有负的ζ电位时,所述表面活性物质包括阴离子型物质、非离子型物质、或其组合。 | ||
搜索关键词: | 表面活性物质 电位 抛光 粒状研磨剂 研磨剂 酸性含水介质 阳离子型物质 阴离子型物质 氧化剂 抛光组合物 研磨剂材料 二氧化硅 非离子型 无机粒状 浓缩物 氧化铝 含钼 浆料 悬浮 金属 | ||
【主权项】:
1.用于抛光含钼基材的化学‑机械抛光(CMP)方法,所述方法包括下列步骤:(a)使所述基材的表面与抛光垫和含水CMP组合物接触,所述含水CMP组合物包含具有在3‑6范围内的pH的含水载体且在使用点处包含:(i)选自二氧化硅研磨剂和氧化铝研磨剂的粒状研磨剂;(ii)200‑1,000ppm的水溶性表面活性物质;和(iii)氧化剂;其中,所述研磨剂具有正的ζ电位,且所述表面活性物质包括阳离子型物质,其中所述阳离子型物质为阳离子型聚合物;以及(b)在保持所述CMP组合物的一部分与所述抛光垫和所述基材之间的表面接触的同时导致所述垫和所述基材之间相对运动一段足以从所述基材磨除所述钼的至少一部分的时间。
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