[发明专利]胶体尺寸的测量方法及测量装置在审

专利信息
申请号: 201810680027.8 申请日: 2018-06-27
公开(公告)号: CN109059758A 公开(公告)日: 2018-12-21
发明(设计)人: 徐青坡 申请(专利权)人: 武汉华星光电技术有限公司
主分类号: G01B11/00 分类号: G01B11/00
代理公司: 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280 代理人: 钟子敏
地址: 430070 湖北省武汉市*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 本申请公开一种胶体尺寸的测量方法及测量装置。所述测量方法包括:预先获取参照物与所述参照物在屏幕上成像时的尺寸比例;保持镜头的拍摄倍率固定不变,利用镜头拍摄胶体并将拍摄得到的胶体的成像显示于屏幕上;得到胶体在屏幕上成像时的成像尺寸;根据所述成像尺寸以及所述尺寸比例得到胶体的真实尺寸。基于此,本申请能够有利于测量胶体在倾斜方向的尺寸,实现异形涂布胶体的尺寸测量。
搜索关键词: 成像 参照物 测量装置 测量 屏幕 测量胶体 成像显示 尺寸测量 拍摄倍率 倾斜方向 涂布胶体 预先获取 镜头 拍摄 异形 申请
【主权项】:
1.一种胶体尺寸的测量方法,其特征在于,所述方法包括:预先获取参照物与所述参照物在屏幕上成像时的尺寸比例,其中成像于所述屏幕上的参照物由镜头拍摄得到;保持所述镜头的拍摄倍率固定不变,利用所述镜头拍摄胶体并将拍摄得到的胶体的成像显示于所述屏幕上;得到所述胶体在所述屏幕上成像时的成像尺寸;根据所述成像尺寸以及所述尺寸比例得到所述胶体的真实尺寸。
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