[发明专利]胶体尺寸的测量方法及测量装置

说明书

本申请公开一种胶体尺寸的测量方法及测量装置。所述测量方法包括：预先获取参照物与所述参照物在屏幕上成像时的尺寸比例；保持镜头的拍摄倍率固定不变，利用镜头拍摄胶体并将拍摄得到的胶体的成像显示于屏幕上；得到胶体在屏幕上成像时的成像尺寸；根据所述成像尺寸以及所述尺寸比例得到胶体的真实尺寸。基于此，本申请能够有利于测量胶体在倾斜方向的尺寸，实现异形涂布胶体的尺寸测量。

技术领域

本申请涉及显示领域，具体涉及电子器件的封装领域，尤其涉及一种胶体尺寸的测量方法及测量装置。

背景技术

在传统的胶体涂布工艺中，胶水被滴注在需要保护的区域后，即进行固化，固化后的胶体能够起到隔水汽、防腐蚀的作用。在液晶显示面板中，胶体又称密封框胶，其主要用于限定液晶盒的所在区域，以及粘合彩膜基板和阵列基板，并控制所述液晶盒的厚度，作用十分重要，因此对所述胶体的尺寸测量十分必要。当前的测量方法只能测量胶体沿水平方向或竖直方向的尺寸，而在胶体倾斜涂布时无法测量胶体沿倾斜方向的尺寸，即无法测量异形涂布的胶体尺寸。

发明内容

鉴于此，本申请提供一种胶体尺寸的测量方法及测量装置，能够有利于测量胶体在倾斜方向的尺寸，实现异形涂布胶体的尺寸测量。

本申请一实施例的胶体尺寸的测量方法，包括：

预先获取参照物与所述参照物在屏幕上成像时的尺寸比例，其中成像于所述屏幕上的参照物由镜头拍摄得到；

保持所述镜头的拍摄倍率固定不变，利用所述镜头拍摄胶体并将拍摄得到的胶体的成像显示于所述屏幕上；

得到所述胶体在所述屏幕上成像时的成像尺寸；

根据所述成像尺寸以及所述尺寸比例得到所述胶体的真实尺寸。

本申请一实施例的胶体尺寸的测量装置，包括处理器以及与所述处理器连接的镜头和屏幕，

所述处理器用于预先获取参照物与所述参照物在屏幕上成像时的尺寸比例，其中成像于所述屏幕上的参照物由镜头拍摄得到；

所述镜头保持拍摄倍率固定不变拍摄胶体；

所述处理器用于将拍摄得到的胶体的成像显示于所述屏幕上；

所述处理器还用于得到所述胶体在所述屏幕上成像时的成像尺寸，以及根据所述成像尺寸以及所述尺寸比例得到所述胶体的真实尺寸。

有益效果：本申请预先获取参照物与所述参照物在屏幕上成像时的尺寸比例，根据这一尺寸比例关系只需得到胶体在屏幕上成像时的成像尺寸，即可计算得到胶体的真实尺寸，而不受到胶体涂布形状(包括胶体倾斜涂布)的影响，因此本申请能够有利于测量胶体在倾斜方向的尺寸，实现异形涂布胶体的尺寸测量。

附图说明

图1是本申请的胶体尺寸的测量方法一实施例的流程示意图；

图2是本申请测量参照物的成像尺寸一实施例的场景示意图；

图3是本申请测量参照物的成像尺寸另一实施例的场景示意图；

图4是本申请测量胶体的成像尺寸一实施例的场景示意图；

图5是本申请测量胶体的成像尺寸另一实施例的场景示意图；

图6是本申请的胶体尺寸的测量装置一实施例的结构示意图。

具体实施方式