[发明专利]预检测桥式结构中IGBT异常的方法有效
申请号: | 201810638259.7 | 申请日: | 2018-06-20 |
公开(公告)号: | CN109116207B | 公开(公告)日: | 2020-10-30 |
发明(设计)人: | 祝祥林;杨效丰 | 申请(专利权)人: | 北京利德华福电气技术有限公司 |
主分类号: | G01R31/26 | 分类号: | G01R31/26;G01R31/327 |
代理公司: | 北京北新智诚知识产权代理有限公司 11100 | 代理人: | 赵郁军 |
地址: | 102205 北京市昌平*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明提供一种预检测桥式结构中IGBT异常的方法,首先,检测同一桥臂上IGBT与下IGBT的连接点的电压,根据该点电压判断没有被击穿的上IGBT或下IGBT;然后,触发没有被击穿的上IGBT或下IGBT;再次检测同一桥臂上IGBT与下IGBT的连接点的电压,根据再次检测的该点电压,判断另一只下IGBT或上IGBT是否被击穿。本发明在设备刚上电启动IGBT前进行检测,判断出是否有IGBT击穿或短路,从而有效地防止启动IGBT输出后,IGBT直通炸毁,确保整台设备的安全运行,避免不必要的经济损失。 | ||
搜索关键词: | 预检 测桥式 结构 igbt 异常 方法 | ||
【主权项】:
1.一种预检测桥式结构中IGBT异常的方法,其特征在于:首先,检测同一桥臂上IGBT与下IGBT连接点的电压,根据该点电压判断没有被击穿的上IGBT或下IGBT;然后,触发没有被击穿的上IGBT或下IGBT;再次检测同一桥臂上IGBT与下IGBT连接点的电压,根据再次检测的该点电压,判断另一只不确定的下IGBT或上IGBT是否被击穿。
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