[发明专利]预检测桥式结构中IGBT异常的方法

权利要求书

1.一种预检测桥式结构中IGBT异常的方法，其特征在于：首先，检测同一桥臂上IGBT与下IGBT连接点的电压，根据该点电压判断没有被击穿的上IGBT或下IGBT；然后，触发没有被击穿的上IGBT或下IGBT；再次检测同一桥臂上IGBT与下IGBT连接点的电压，根据再次检测的该点电压，判断另一只不确定的下IGBT或上IGBT是否被击穿；

当判断出上或下IGBT没有被击穿后，触发上IGBT或下IGBT，检测同一桥臂上IGBT与下IGBT连接点的电压，根据检测的该点电压判断上IGBT或下IGBT是否能够正常开通，其驱动链路是否异常；

具体步骤如下：

假设同一桥臂的上IGBT与下IGBT连接点的电压＞1/2Vbus为高电平，否则为低电平；

S1、逐一桥臂进行检测，先检测同一桥臂上IGBT与下IGBT的连接点VA或VB或VC处的电压；如果上IGBT与下IGBT的连接点的电位为高电平，说明下IGBT没有击穿，继续执行下面步骤S2；如果上IGBT与下IGBT的连接点的电位为低电平，说明上IGBT没有被击穿，跳转执行步骤S4；

S2、触发下IGBT，再次检测上IGBT与下IGBT的连接点的电压，如果是高电平，说明上IGBT被击穿，或者下IGBT开通失败，下IGBT的触发电路异常，跳转执行步骤S6；如果是低电平，说明上IGBT没有被击穿，下IGBT开通正常；

S3、延迟死区时间，触发上IGBT，再次检测上IGBT与下IGBT的连接点的电压，如果是高电平，说明上IGBT开通正常，跳转执行步骤S6；如果是低电平，说明上IGBT虽然没有被击穿，但无法正常开通工作，其驱动链路异常，跳转执行步骤S6；

S4、触发上IGBT，再次检测上IGBT与下IGBT的连接点的电压，如果是低电平，说明下IGBT被击穿，或者上IGBT开通失败，其驱动链路异常，跳转执行步骤S6；如果是高电平，说明上IGBT开通正常，下IGBT未被击穿；

S5、延迟死区时间，触发下IGBT，再次检测上IGBT与下IGBT的连接点的电压，如果是低电平，说明下IGBT开通正常，跳转执行步骤S6；如果是高电平，说明下IGBT虽然没有被击穿，但无法正常开通工作，其驱动链路异常；

S6、至此，该桥臂上和下IGBT检测完毕；

在触发上和下IGBT时，使其每次有效开通的时间不超过10us。