[发明专利]光学传感器以及光学传感器的异常检测方法有效

专利信息
申请号: 201810594215.9 申请日: 2018-06-11
公开(公告)号: CN109579705B 公开(公告)日: 2020-10-27
发明(设计)人: 蓬郷典大;近藤智则;古川慎也 申请(专利权)人: 欧姆龙株式会社
主分类号: G01B11/02 分类号: G01B11/02
代理公司: 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 代理人: 杨贝贝;臧建明
地址: 日本京都府京都市下京区盐小路通堀川东*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明提供一种无须设置传感器等附加检测机构便能够检测接合异常的光学传感器及光学传感器的异常检测方法。光学传感器包括:光源装置,产生向对象物照射的光;受光部,接收来自对象物的反射光;分支部,将与光源装置光学耦合的第1光纤及与受光部光学耦合的第2光纤熔接并与朝向对象物的第3光纤的一端接合;以及处理部,以从第3光纤的另一端在无反射的状态下由受光部所检测出的受光量作为基准检测量,基于受光部中检测出的受光量相对于基准受光量的增量是否处于预定范围内,来判断第3光纤与分支部的接合部有无接合异常。
搜索关键词: 光学 传感器 以及 异常 检测 方法
【主权项】:
1.一种光学传感器,其基于来自对象物的反射光来测量与所述对象物的距离或所述对象物的位移,所述光学传感器的特征在于包括:光源装置,产生向所述对象物照射的光;受光部,接收来自所述对象物的反射光;分支部,将与所述光源装置光学耦合的第1光纤及与所述受光部光学耦合的第2光纤熔接并与朝向所述对象物的第3光纤的一端接合;以及处理部,以从所述第3光纤的另一端在无反射的状态下由所述受光部所检测出的受光量作为基准检测量,基于所述受光部中检测出的受光量相对于所述基准检测量的增量是否处于预定范围内,来判断所述第3光纤与所述分支部的接合部有无接合异常。
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