[发明专利]光学传感器以及光学传感器的异常检测方法

权利要求书

1.一种光学传感器，其基于来自对象物的反射光来测量与所述对象物的距离或所述对象物的位移，所述光学传感器的特征在于包括：

光源装置，产生向所述对象物照射的光；

受光部，接收来自所述对象物的反射光；

分支部，将与所述光源装置光学耦合的第1光纤及与所述受光部光学耦合的第2光纤熔接并与朝向所述对象物的第3光纤的一端接合；以及

处理部，以从所述第3光纤的另一端在无反射的状态下由所述受光部所检测出的受光量作为基准检测量，基于所述受光部中检测出的受光量相对于所述基准检测量的增量是否处于预定范围内，来判断所述第3光纤与所述分支部的接合部有无接合异常，其中

所述受光部是以输出所入射的光强度的波长特性的方式而构成，

所述处理部基于差分波长特性来判断所述增量是否处于预定范围内，所述差分波长特性相当于与所述基准检测量对应的基准波长特性和来自所述受光部的波长特性的差分，

所述处理部在所述差分波长特性所表示的多个波长各自下的强度全部为预定的正的第1阈值以下、且有一个以上大于预定的正的第2阈值时，判断为所述第3光纤与所述分支部的接合部存在异常，所述预定的正的第2阈值小于所述正的第1阈值。

2.根据权利要求1所述的光学传感器，其特征在于，

所述处理部在所述差分波长特性所表示的多个波长各自下的强度全部为所述正的第2阈值以下时，判断为来自所述光源装置的光的产生存在异常。

3.根据权利要求2所述的光学传感器，其特征在于，

所述处理部在所述差分波长特性所表示的多个波长各自下的强度全部为所述正的第2阈值以下，且有一个以上大于所述基准检测量的反转负值时，判断为所述光源装置发生了劣化，当所述差分波长特性所表示的多个波长各自下的强度全部与所述基准检测量的反转负值实质上相同时，判断为来自所述光源装置的光的产生已停止。

4.根据权利要求2所述的光学传感器，其特征在于，

所述处理部在所述第3光纤与所述分支部的接合部无异常，且来自所述光源装置的光的产生无异常时，将所述受光部的检测信号作为有效的测量信号而输出。

5.根据权利要求3所述的光学传感器，其特征在于，

所述处理部在判断为来自所述光源装置的光的产生已停止时，停止所述光源装置的投光。

6.根据权利要求3所述的光学传感器，其特征在于，

还包括通知部，

所述处理部在判断为所述第3光纤与所述分支部的接合部存在异常时或者判断为所述光源装置发生了劣化时，从所述通知部通知异常。

7.一种光学传感器，其基于来自对象物的反射光来测量与所述对象物的距离或所述对象物的位移，所述光学传感器特征在于包括：

光源装置，产生向所述对象物照射的光；

受光部，接收来自所述对象物的反射光；

分支部，将与所述光源装置光学耦合的第1光纤及与所述受光部光学耦合的第2光纤熔接并与朝向所述对象物的第3光纤的一端接合；以及

处理部，以从所述第3光纤的另一端在无反射的状态下由所述受光部所检测出的受光量作为基准检测量，基于所述受光部中检测出的受光量相对于所述基准检测量的增量是否处于预定范围内，来判断所述第3光纤与所述分支部的接合部有无接合异常，其中

所述受光部是以输出所入射的光强度的波长特性的方式而构成，

所述处理部基于差分波长特性来判断所述增量是否处于预定范围内，所述差分波长特性相当于与所述基准检测量对应的基准波长特性和来自所述受光部的波长特性的差分，

所述处理部对所述差分波长特性所表示的各波长的强度进行累计而算出面积值，并且，在所算出的面积值为预定的正的第1阈值以下，且大于预定的正的第2阈值时，判断为所述第3光纤与所述分支部的接合部存在异常，所述预定的正的第2阈值小于所述正的第1阈值。

8.根据权利要求7所述的光学传感器，其特征在于，

所述处理部在所述面积值为所述正的第2阈值以下时，判断为来自所述光源装置的光的产生存在异常。