[发明专利]一种多孔径深度偏移成像的方法、装置及系统有效
申请号: | 201810522334.3 | 申请日: | 2018-05-28 |
公开(公告)号: | CN108802817B | 公开(公告)日: | 2019-10-11 |
发明(设计)人: | 徐基祥;孙夕平;李凌高;崔化娟 | 申请(专利权)人: | 中国石油天然气股份有限公司 |
主分类号: | G01V1/30 | 分类号: | G01V1/30;G01V1/34 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 王天尧;李秀芸 |
地址: | 100007 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本申请公开了一种多孔径深度偏移成像的方法、装置及系统,其中,所述方法包括:将偏移孔径分解为多个子孔径,确定多孔径的参数;确定每一道地震记录的炮检中心点;获取每个成像点到每一道地震记录的炮检中心点的水平距离,并获取成像点所在深度的最大孔径;根据多孔径的参数及每个成像点到每一道地震记录的炮检中心点的水平距离获取每个成像点所在的孔径编号;在成像点到每一道地震记录的炮检中心点的水平距离小于等于成像点所在深度的最大孔径时,根据多孔径的参数确定孔径权函数;根据孔径编号将成像能量按孔径权函数加权放入各个子孔径中,获得各子孔径中成像值;利用各个子孔径中成像值获得多孔径深度偏移成像数据体。 | ||
搜索关键词: | 成像点 地震记录 中心点 深度偏移成像 水平距离 子孔径 装置及系统 最大孔径 权函数 成像 参数确定 成像能量 偏移孔径 数据体 放入 加权 分解 申请 | ||
【主权项】:
1.一种多孔径深度偏移成像的方法,其特征在于,包括:将偏移孔径分解为多个子孔径,确定多孔径的参数;根据多孔径的参数确定孔径权函数;将成像能量按所述孔径权函数加权放入各个子孔径中,获得各子孔径中成像值;利用各个子孔径中成像值获得多孔径深度偏移成像数据体;其中,所述根据多孔径的参数确定孔径权函数的步骤包括:确定每一道地震记录的炮检中心点;获取每个成像点到每一道地震记录的炮检中心点的水平距离,并根据多孔径的参数获取所述成像点所在深度的最大孔径;根据多孔径的参数及每个成像点到每一道地震记录的炮检中心点的水平距离获取每个成像点所在的孔径编号;在所述成像点到每一道地震记录的炮检中心点的水平距离小于等于所述成像点所在深度的最大孔径时,根据多孔径的参数确定孔径权函数;其中,所述孔径权函数的确定步骤包括:根据多孔径的参数确定孔径半宽度;根据所述孔径半宽度、每个成像点所在的孔径编号以及成像点到每一道地震记录的炮检中心点的水平距离在等距离子孔径和等张角子孔径两种情况下确定多孔径的参数确定孔径权函数;在等距离子孔径情况下:(I)第一孔径权函数为:
(II)第k(2≤k≤ncycle‑1)孔径权函数为:
其中,k=icy+1,d=dom,icy表示成像点所在的孔径编号,dom表示成像点到炮检中心点的水平距离,a表示孔径半宽度,ncycle表示孔径总数;在等张角子孔径情况下:(I)第一孔径权函数为
(II)第k(2≤k≤ncycle‑1)孔径权函数为
其中,k=icy+1,d=dom,icy表示成像点所在的孔径编号,dom表示成像点到炮检中心点的水平距离,a1表示第一孔径半宽度,a2表示第二孔径半宽度,ai表示第i孔径半宽度,ak+1表示第k+1孔径半宽度,ncycle表示孔径总数。
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