[发明专利]一种多孔径深度偏移成像的方法、装置及系统有效

专利信息
申请号: 201810522334.3 申请日: 2018-05-28
公开(公告)号: CN108802817B 公开(公告)日: 2019-10-11
发明(设计)人: 徐基祥;孙夕平;李凌高;崔化娟 申请(专利权)人: 中国石油天然气股份有限公司
主分类号: G01V1/30 分类号: G01V1/30;G01V1/34
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 王天尧;李秀芸
地址: 100007 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 成像点 地震记录 中心点 深度偏移成像 水平距离 子孔径 装置及系统 最大孔径 权函数 成像 参数确定 成像能量 偏移孔径 数据体 放入 加权 分解 申请
【权利要求书】:

1.一种多孔径深度偏移成像的方法,其特征在于,包括:

将偏移孔径分解为多个子孔径,确定多孔径的参数;

根据多孔径的参数确定孔径权函数;

将成像能量按所述孔径权函数加权放入各个子孔径中,获得各子孔径中成像值;

利用各个子孔径中成像值获得多孔径深度偏移成像数据体;

其中,所述根据多孔径的参数确定孔径权函数的步骤包括:

确定每一道地震记录的炮检中心点;

获取每个成像点到每一道地震记录的炮检中心点的水平距离,并根据多孔径的参数获取所述成像点所在深度的最大孔径;

根据多孔径的参数及每个成像点到每一道地震记录的炮检中心点的水平距离获取每个成像点所在的孔径编号;

在所述成像点到每一道地震记录的炮检中心点的水平距离小于等于所述成像点所在深度的最大孔径时,根据多孔径的参数确定孔径权函数;

其中,所述孔径权函数的确定步骤包括:

根据多孔径的参数确定孔径半宽度;

根据所述孔径半宽度、每个成像点所在的孔径编号以及成像点到每一道地震记录的炮检中心点的水平距离在等距离子孔径和等张角子孔径两种情况下确定多孔径的参数确定孔径权函数;

在等距离子孔径情况下:

(I)第一孔径权函数为:

(II)第k(2≤k≤ncycle-1)孔径权函数为:

其中,k=icy+1,d=dom,icy表示成像点所在的孔径编号,dom表示成像点到炮检中心点的水平距离,a表示孔径半宽度,ncycle表示孔径总数;

在等张角子孔径情况下:

(I)第一孔径权函数为

(II)第k(2≤k≤ncycle-1)孔径权函数为

其中,k=icy+1,d=dom,icy表示成像点所在的孔径编号,dom表示成像点到炮检中心点的水平距离,a1表示第一孔径半宽度,a2表示第二孔径半宽度,ai表示第i孔径半宽度,ak+1表示第k+1孔径半宽度,ncycle表示孔径总数。

2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述多孔径的参数包括:孔径总数、起始成像点深度、参考深度、参考深度上最大孔径、孔径最大张角、z方向成像点间距、x方向成像点间距。

3.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述每一道地震记录的炮检中心点根据每一道地震记录的炮点位置和接收点位置确定。

4.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述成像点所在深度的最大孔径根据多孔径的参数在等距离子孔径和等张角子孔径两种情况下确定。

5.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述每个成像点所在的孔径编号在各个子孔径在同一深度上的宽度相等、且各子孔径的内孔径占两个区带和各个子孔径的张角相等、且各子孔径的内孔径占两个区带两种情况下根据多孔径的参数及每个成像点到每一道地震记录的炮检中心点的水平距离确定。

6.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述各子孔径中成像值获取步骤包括:

根据每一道地震记录的炮点到每个成像点走时和每一道地震记录的接收点到所述成像点走时之和,从每一道地震记录中提取样点值,将所述样点值作为所述成像点的成像值;

将每个成像点的成像值分配到各个子孔径上,获取各子孔径中成像值。

7.如权利要求6所述的方法,其特征在于,将每个成像点的成像值分配到各个子孔径上的步骤:

所述孔径编号为0,将每个成像点的成像值乘以第一孔径权函数放入第一孔径;将每个成像点的成像值乘以1减去第一孔径权函数的函数放入第二孔径;

所述孔径编号大于等于1且小于等于孔径总数减去2,将每个成像点的成像值乘以第k孔径权函数放入第k孔径;将每个成像点的成像值乘以1减去第k孔径权函数的函数放入第k+1孔径;其中,2≤k≤ncycle-1,且k=icy+1,icy为标识孔径编号,ncycle为孔径总数。

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