[发明专利]信令测试方法、装置、计算机设备和存储介质有效
| 申请号： | 201810467163.9 | 申请日： | 2018-05-16 |
| 公开（公告）号： | CN108683465B | 公开（公告）日： | 2021-08-17 |
| 发明（设计）人： | 韦文写;张天瑜;许宁 | 申请（专利权）人： | 深圳市广和通无线通信软件有限公司 |
| 主分类号： | H04B17/15 | 分类号： | H04B17/15;H04B17/29 |
| 代理公司： | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 孙凯乐 |
| 地址： | 518051 广东省深圳市南山区*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请涉及一种信令测试方法、系统、计算机设备和存储介质。方法包括：获取信令测试的相关参数；在模拟的NB‑IoT网络中，根据信令测试的相关参数，测试待测NB‑IoT模块的第一性能；更新信令测试的相关参数中第二性能测试对应的相关参数，在模拟的NB‑IoT网络中，根据更新后的信令测试的相关参数，测试待测NB‑IoT模块的第二性能，第一性能为发射性能、且第二性能为接收性能，或第一性能为接收性能、且第二性能为发射性能。通过上述信令测试方法可以检验待出厂的NB‑IoT模块在真实网络下的表现，保证NB‑IoT模块出厂性能。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 方法 装置 计算机 设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
1.一种信令测试方法，所述方法包括：获取信令测试的相关参数；在模拟的NB‑IoT网络中，根据所述信令测试的相关参数，测试待测NB‑IoT模块的第一性能；更新所述信令测试的相关参数中第二性能测试对应的相关参数，在所述模拟的NB‑IoT网络中，根据更新后的所述信令测试的相关参数，测试所述待测NB‑IoT模块的第二性能，所述第一性能为发射性能、且所述第二性能为接收性能，或所述第一性能为接收性能、且所述第二性能为发射性能。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳市广和通无线通信软件有限公司，未经深圳市广和通无线通信软件有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201810467163.9/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：天线校准网络装置及其屏蔽罩
- 下一篇：一种智能终端及射频干扰检测方法
