[发明专利]信令测试方法、装置、计算机设备和存储介质

说明书

本申请涉及一种信令测试方法、系统、计算机设备和存储介质。方法包括：获取信令测试的相关参数；在模拟的NB‑IoT网络中，根据信令测试的相关参数，测试待测NB‑IoT模块的第一性能；更新信令测试的相关参数中第二性能测试对应的相关参数，在模拟的NB‑IoT网络中，根据更新后的信令测试的相关参数，测试待测NB‑IoT模块的第二性能，第一性能为发射性能、且第二性能为接收性能，或第一性能为接收性能、且第二性能为发射性能。通过上述信令测试方法可以检验待出厂的NB‑IoT模块在真实网络下的表现，保证NB‑IoT模块出厂性能。

技术领域

本申请涉及电子产品生产技术领域，特别是涉及一种信令测试方法、装置、计算机设备和存储介质。

背景技术

随着物联网技术的发展，出现了NB-IoT(Narrow Band Internet of Things,窄带物联网)技术，NB-IoT构建于蜂窝网络，只消耗大约180KHz的带宽，可直接部署于GSM(Global System for Mobile communication，全球移动通信系统)网络、UMTS(UniversalMobile Telecommunications System，通用移动通信系统)网络或LTE(Long TermEvolution，通用移动通信技术的长期演进)网络，以降低部署成本、实现平滑升级。

目前通信终端的射频综测分为非信令测试和信令测试两种方法。非信令测试是直接控制通信终端的物理层来进行发射和接收测试；而信令测试就是用综测仪模拟基站，和通信终端建立起连接，综测仪发出各种信令，通信终端此时相当于联上了网络，从而进行发射和接收指标的测试。

然而NB-IoT终端目前只进行非信令综测，NB-IoT只进行非信令综测，无法检验出厂的NB-IoT终端在真实网络下的表现，无法保证NB-IoT终端的出厂性能。

发明内容

基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种能够对NB-IoT终端进行信令综测的信令测试方法方法、装置、计算机设备和存储介质。

一种信令测试方法，所述方法包括：

获取信令测试的相关参数；

在模拟的NB-IoT网络中，根据所述信令测试的相关参数，测试待测NB-IoT模块的第一性能；

更新所述信令测试的相关参数中第二性能测试对应的相关参数，在所述模拟的NB-IoT网络中，根据更新后的所述信令测试的相关参数，测试所述待测NB-IoT模块的第二性能，所述第一性能为发射性能、且所述第二性能为接收性能，或所述第一性能为接收性能、且所述第二性能为发射性能。

在其中一个实施例中，所述设置信令测试的相关参数之前包括：

初始化待测NB-IoT模块的供电电源；

向所述供电电源发送上电控制指令，控制所述供电电源为所述待测NB-IoT模块上电；

读取所述待测NB-IoT模块的基本信息。

在其中一个实施例中，所述在模拟的NB-IoT网络中，根据所述信令测试的相关参数，测试待测模块的第一性能之前还包括：

模拟NB-IoT网络；

在所述NB-IoT网络上注册所述待测NB-IoT模块；

通过所述NB-IoT网络与待测NB-IoT模块连接。

在其中一个实施例中，所述在所述NB-IoT网络上注册所述待测NB-IoT模块之前还包括：

启动所述待测NB-IoT模块。

在其中一个实施例中，所述在所述NB-IoT网络上注册所述待测NB-IoT模块之前还包括：