[发明专利]大口径反射面天线结构变形对电性能影响的快速计算方法有效
| 申请号： | 201810445637.X | 申请日： | 2018-05-11 |
| 公开（公告）号： | CN108666766B | 公开（公告）日： | 2020-06-09 |
| 发明（设计）人： | 伍洋;刘胜文;杜彪;刘国玺;郭晓坡 | 申请（专利权）人： | 中国电子科技集团公司第五十四研究所 |
| 主分类号： | H01Q19/10 | 分类号： | H01Q19/10;G06F30/20 |
| 代理公司： | 河北东尚律师事务所 13124 | 代理人： | 王文庆 |
| 地址： | 050081 河北省石家*** | 国省代码： | 河北;13 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及一种大口径反射面天线结构变形对电性能影响的快速计算方法，所述方法通过分解大口径反射面天线的结构变形，将天线结构变形的主要项反射面的变形分解为组成反射面的每一块面板的位移和旋转，首先计算理想情况下每块面板的散射方向图，然后根据每块面板的位移和旋转对其散射方向图进行修正，再将修正后的每块面板的散射方向图叠加，得到结构变形后天线的方向图，进而计算反射面天线各项技术指标的变化。通过将大尺度的二维积分变为叠加，从而有效缩短分析的计算时间。所述方法适用于各种大口径反射面天线结构变形对电性能影响的分析。 | ||
| 搜索关键词： | 口径 反射 天线 结构 变形 性能 影响 快速 计算方法 | ||
【主权项】：
1.大口径反射面天线结构变形对电性能影响的快速计算方法，其特征在于包括如下步骤：(1)计算组成反射面天线的每一块天线面板在理想情况下每个角度所对应的散射方向图，并记录；(2)根据反射面天线结构力学分析的结果，确定各种工况下每一块天线面板的最大的位移量和旋转量，在最大的位移量和旋转量范围内，分别计算不同的位移量和旋转量引起的天线面板的散射方向图幅度和相位的变化，进而确定天线面板散射方向图的修正因子；(3)基于反射面天线结构力学分析的结果，确定每一块天线面板的实际位移量和旋转量，根据修正因子对每一块天线面板的散射方向图进行修正；(4)将修正后的每一块天线面板的散射方向图进行叠加，得到结构变形后反射面天线的方向图；(4)根据结构变形后反射面天线的方向图计算所需的相关技术指标；完成大口径反射面天线结构变形对电性能影响的快速计算。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国电子科技集团公司第五十四研究所，未经中国电子科技集团公司第五十四研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201810445637.X/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种基于石墨烯的超宽带微波动态可调吸波结构
- 下一篇：微带天线及通信系统
